[发明专利]一种用于测量零件上点与截面间距离的方法

权利要求书

1. 一种用于测量零件上点与截面间距离的方法，包括如下步骤：

A. 制作专用组合量具：所述的专用组合量具包括定位底座（8）、量具支撑套（6）、定位芯（5），定位底座（8）的上水平面为基准面，定位底座（8）基准面向定位底座体内加工有定位曲面（1），该曲面的形状与零件（2）截面至端头处的外侧面及底面形状相匹配，则零件（2）截面所在端头置于定位曲面后，截面与定位底座（8）的基准面重合；量具支撑套（6）垂直于定位底座（8）并套装在零件（2）的外侧，量具支撑套（6）的高度高于待测量零件（2）高度；定位芯（5）的侧面形状与量具支撑套（6）相匹配，定位芯（5）的下底面形状是曲面，曲面形状与零件（2）测量点到零件（2）端头的曲面形状相匹配，定位芯（5）的曲面与侧面之间形成过渡曲面充当限位面7；

B. 确定截面位置：将零件（2）的截面一端安装在定位底座（8）的定位曲面上，使截面与定位底座（8）的基准面重合；

C. 固定待测量零件：将量具支撑套（6）套装在待测量零件（2）外侧；

D. 安装定位芯（5）：先将定位芯（5）有限位面7的一端先置于量具支撑套（6）中，然后再将定位芯（5）整体置于量具支撑套（6）内，直到定位芯（5）的最底端到达零件（2）的测量点处，此时限位面7限制定位芯不再继续沿轴向运动；

E. 计算零件长度：根据公式：零件（2）的长度L=量具支撑套（6）高度-定位芯（5）探入量具支撑套长度计算出零件（2）测量点与截面之间的距离。

2. 根据权利要求1中所述的一种用于测量零件上点与截面间距离的方法，其特征在于：步骤A中的组合量具还在定位芯另一端头，即非与零件接触端的端头底面分为两部分，分别加工成负公差检测面（4）和正公差检测面（3）；负公差检测面（4）即为零件公差为负时定位芯最底端的距负公差检测面（4）的长度，具体数值为：量具支撑套（6）长度减去零件（2）长度L再加上负公差最小值的绝对值；正公差检测面（3）即为零件公差为正时，定位芯（5）最底端距正公差检测面（3）的长度，具体数值为量具支撑套（6）长度减去零件长度L再减去正公差最大值；对应的，要在步骤D后加入检验步骤D^1，则当零件安装好、定位芯到位、限位面工作后，负公差检测面（4）高于或等于量具支撑筒（6）的最高点处且正公差检测面（3）低于量具支撑筒（6）的最高点处时，此时的零件尺寸符合公差要求；当正公差检测面（3）高于量具支撑套（6）的最高点或负公差检测面（4）低于量具支撑套（6）的最高点时，则表示零件（2）的尺寸超出了允许的公差范围，不符合尺寸要求。

3. 根据权利要求1中所述的一种用于测量零件上点与截面间距离的方法，其特征在于：步骤A中制作专用组合量具时，还在定位芯（5）上和量具支撑套（6）上分别刻画有长度标记，则零件（2）的长度L=量具支撑套高度-定位芯探入量具支撑套长度，步骤E中根据刻画在定位芯和量具支撑套上的长度标记，直接读取量具支撑套高度和定位芯探入量具支撑套的长度，进而直接进行零件（2）长度的计算。