[发明专利]测试控制装置有效
| 申请号： | 201310337254.8 | 申请日： | 2013-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN103399499A | 公开（公告）日： | 2013-11-20 |
| 发明（设计）人： | 余廷义;王晓峰 | 申请（专利权）人： | 深圳深爱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/04 | 分类号： | G05B19/04;G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518118 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 控制 装置 | ||
1.一种测试控制装置，包括：
检测模块，包括受控开关的控制端，用于在测试对象到位时控制所述受控开关的受控端闭合；
测试信号发送模块，包括所述受控端，用于在所述受控端闭合后通过测试使能信号输出端发送测试使能信号；
测试模块，用于在接收到测试使能信号时开始对测试对象进行测试；其特征在于，
所述测试信号发送模块还包括延时电阻和延时电容，所述延时电阻与所述受控端串联连接，串联支路两端分别连接所述延时电容的两端，所述延时电容一端接地，另一端连接所述测试使能信号输出端和测试信号发送模块的电源输入端。
2.根据权利要求1所述的测试控制装置，其特征在于，所述受控开关是继电器，所述控制端是所述继电器的线圈，所述受控端是继电器的常开触点。
3.根据权利要求2所述的测试控制装置，其特征在于，还包括照明模块，所述继电器还包括常闭触点，所述照明模块包括所述常闭触点及与所述常闭触点串联的照明灯。
4.根据权利要求3所述的测试控制装置，其特征在于，所述电容的放电时间大于所述照明灯从所述常闭触点打开到完全熄灭所需要的时间。
5.根据权利要求4所述的测试控制装置，其特征在于，所述电容的放电时间为60毫秒。
6.根据权利要求1所述的测试控制装置，其特征在于，所述受控端闭合后电路达到稳定状态时所述测试使能信号输出端的电压小于或等于0.6伏特。
7.根据权利要求6所述的测试控制装置，其特征在于，所述电压小于或等于0.4伏特。
8.根据权利要求1所述的测试控制装置，其特征在于，所述测试使能信号输出端和测试信号发送模块的电源输入端之间还接有外接电阻。
9.根据权利要求1所述的测试控制装置，其特征在于，所述延时电阻为可调电阻。
10.根据权利要求1所述的测试控制装置，其特征在于，所述测试控制装置是晶体管测试控制装置，所述测试对象是硅片。
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