[发明专利]一种低剂量核辐射的检测方法无效

专利信息
申请号: 201310337023.7 申请日: 2013-08-05
公开(公告)号: CN103399339A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 李莹滢;董祥 申请(专利权)人: 李莹滢
主分类号: G01T1/04 分类号: G01T1/04;C01F17/00
代理公司: 云南派特律师事务所 53110 代理人: 张怡
地址: 650100 云南省昆明市官渡区*** 国省代码: 云南;53
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摘要:
搜索关键词: 一种 剂量 核辐射 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种低剂量核辐射的检测方法,其特征在于:包括以下步骤:

a、制备溶液:将CeO2纳米线分散在水中,形成1×10-5g/ml~1×10-3g/ml的CeO2纳米线溶液;

b、检测:将所述CeO2纳米线溶液置于容器内放于待需检测的辐射环境中,取样,检测辐射后溶液的吸收光谱、透过光谱或发射光谱,得检测结果。

2.根据权利要求1所述的一种低剂量核辐射的检测方法,其特征在于:所述CeO2纳米线的直径为5nm~100nm,长度为20nm~3μm。

3.根据权利要求1所述的一种低剂量核辐射的检测方法,其特征在于:所述水选自去离子水、蒸馏水或超纯水中的一种。

4.根据权利要求1所述的一种低剂量核辐射的检测方法,其特征在于:所述CeO2纳米线溶液的浓度为1.17×10-4g/ml。

5.根据权利要求1-4任一项所述的一种低剂量核辐射的检测方法,其特征在于:所述CeO2纳米线的制备方法包括以下步骤:将0.1~10mol/L碱性溶液逐滴加入到与该碱性溶液同体积的0.01~1mol/L的Ce3+溶液中,混匀,以0.1℃/min~50℃/min的加热速率密封加热,在加热至140℃~200℃时保持反应1~48小时,然后再以0.1℃/min~50℃/min的冷却速率冷却至室温,得黄色沉淀物,将该黄色沉淀物进行洗涤,再在30℃~100℃下干燥1~24小时,得CeO2纳米线成品。

6.根据权利要求5所述的一种低剂量核辐射的检测方法,其特征在于:所述碱性溶液选自NaOH溶液、NH3·H2O溶液、KOH溶液、Ca(OH)2溶液、四甲基氢氧化铵溶液、四乙基氢氧化铵溶液、四丙基氢氧化铵溶液、四丁基氢氧化铵溶液或甲胺水溶液中的一种或几种。

7.根据权利要求5所述的一种低剂量核辐射的检测方法,其特征在于:所述Ce3+溶液选自CeCl3·7H2O溶液、Ce(NO3)3·6H2O溶液或Ce2(SO4)3·8H2O溶液中的一种或几种。

8.根据权利要求5所述的一种低剂量核辐射的检测方法,其特征在于:所述洗涤是将黄色沉淀物置于分离洗涤装置中,分别采用去离子水和乙醇清洗1次~10次。

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