[发明专利]一种碳化硅肖特基势垒二极管及其制作方法无效
申请号: | 201310330738.X | 申请日: | 2013-08-01 |
公开(公告)号: | CN103400853A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 邓小川;李轩;王向东;文译;饶成元;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/10 | 分类号: | H01L29/10;H01L29/872;H01L21/329 |
代理公司: | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 李顺德;王睿 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 碳化硅 肖特基势垒二极管 及其 制作方法 | ||
1.一种碳化硅肖特基势垒二极管,包括依次层叠设置的阴极电极(1)、N+衬底(2)、N-漂移区(3)、P+层(4)和阳极电极(5),其特征在于,所述P+层(4)上设置有多个固定间距的凹槽(6),所述阳极电极(5)填充在凹槽(6)内。
2.根据权利要求1所述的一种碳化硅肖特基势垒二极管,其特征在于,所述凹槽(6)的断面形状为V字型、矩形和U形中的一种。
3.根据权利要求2所述的一种碳化硅肖特基势垒二极管,其特征在于,所述凹槽(6)的深度大于P+层(4)的厚度,并延伸到N-漂移区(3)中。
4.根据权利要求3所述的一种碳化硅肖特基势垒二极管,其特征在于,所述阳极电极(5)采用的材料为钛、镍和铝中的一种或多种组合而成的合金。
5.根据权利要求4所述的一种碳化硅肖特基势垒二极管,其特征在于,所述N+衬底(2)和P+层(4)采用的材料为碳化硅、氮化镓、金刚石、石墨烯、砷化镓、硅和锗中的一种。
6.一种碳化硅肖特基势垒二极管的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:
a.在碳化硅N+衬底(2)上外延一定厚度的N-漂移区(3);
b.在N-漂移区(3)上外延一定厚度的碳化硅P+层(4);
c.刻蚀碳化硅P+层(4)至N-漂移区(3)中,形成多个有一定间距的凹槽(6),凹槽(6)的深度大于P+层(4)的厚度;
d.在碳化硅上表面和下表面淀积金属,形成阳极电极(5)和阴极电极(1)。
7.根据权利要求6所述的一种碳化硅肖特基势垒二极管的制作方法,其特征在于,所述阳极电极(5)采用的材料为钛、镍和铝中的一种或多种组合而成的合金。
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