[发明专利]信号线和修复线短路检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种信号线和修复线短路检测方法。

背景技术

在薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）制造过程中，小尺寸产品在液晶盒检测（Cell Test）过程中通常采用短路条（Shorting Bar）检测方式。如图1所示，显示面板上形成有公共电极线4、驱动红色亚像素数据线5对应的短路条1、驱动绿色亚像素数据线6对应的短路条2和驱动蓝色亚像素数据线7对应的短路条3。三条短路条1、2和3分别通过过孔8连接对应的数据线5、6和7，用于为数据线5、6和7施加检测电压。

显示面板上还形成有修复线9，如果其中某一条数据线与修复线9短路，如图1中，某条数据线6与修复线9在交叉点10发生短路，该某条数据线6的检测电压被拉低（数据线的电压都为正，而修复线电压为零，即无电压）。但是由于修复线9本身无电压，且该条数据线6与其他数据线6连接（驱动相同颜色亚像素的数据线连在一起），修复线9只能将这些数据线6电压拉低极小部分，与修复线9短路的数据线6相对于未短路的数据线6被拉低的差异很小，即短路的这条数据线6驱动的像素电极与其它数据线6驱动的像素电极的电压差距很小，液晶偏转的差异不明显，显示颜色的差异也不明显，因此这种短路不良不容易检出。而模组（Module）阶段时为全接触（Full Contact）检测方式，该条数据线6不与其他数据线6连接（沿图中虚线断开），修复线9可以拉低这条数据线6电压，电压变小会导致液晶偏转程度不同于正常区域，检测现象表现为亮线。但此时检测出来后若问题严重可能导致整个面板报废，不严重时也会额外增加修复流程。

发明内容

（一）要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是：如何在液晶盒测试（Cell Test）阶段检测出数据线和修复线短路的情况。

（二）技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供了一种信号线和修复线短路检测方法，包括步骤：

在液晶盒检测阶段驱动像素显示时，施加第一检测电压至所述信号线，同时施加与所述第一检测电压不相等的第二检测电压至所述修复线；

检测像素的显示情况，若所述信号线驱动的像素出现预定的显示异常，则检测出所述信号线和所述修复线短路。

其中，将所述信号线连接至短路条，通过所述短路条施加所述第一检测电压至所述信号线。

其中，将所述修复线连接至公共电极线，将所述公共电极线的电压作为所述第二检测电压施加至所述修复线。

其中，所述信号线包括：栅线或数据线。

其中，所述数据线连接一条数据线短路条；或者驱动相同颜色亚像素的数据线连接同一条所述数据线短路条，驱动不同颜色亚像素的数据线连接不同的所述数据线短路条，通过不同的数据线短路条施加第一检测电压至所述不同的数据线。

其中，所述预定的显示异常包括：与所述修复线短路的数据线驱动的像素的显示与正常单色画面差异最大，越向与所述修复线短路的数据线驱动的像素两侧延伸，显示色彩越接近于正常单色画面，所述正常单色画面为所述数据线未与所述修复线短路时应该显示的单色画面。

其中，所述栅线连接栅线短路条，通过所述栅线短路条施加所述第一检测电压至所述栅线；

所述第一检测电压小于所述栅线驱动的薄膜晶体管的开启电压，所述第二检测电压不小于所述栅线驱动的薄膜晶体管的开启电压；或者所述第一检测电压不小于所述栅线驱动的薄膜晶体管的开启电压，所述第二检测电压小于所述栅线驱动的薄膜晶体管的开启电压。

其中，所述预定的显示异常包括：与所述修复线短路的栅线驱动的像素及其两侧一定宽度内的像素显示与正常单色画面不同颜色的单色画面，所述正常单色画面为所述栅线未与所述修复线短路时应该显示的单色画面。

（三）有益效果

本发明通过在对信号线施加第一检测电压同时，对修复线施加第二检测电压，若信号线和修复线短路，通过第二检测电压使与修复线短路的信号线与其它信号线的压差增大，从而放大最终显示的差异程度，从而更容易地检测出哪条信号线与修复线发生了短路。

附图说明

图1是现有技术中的短路条检测示意图；

图2是本发明实施例的一种数据线和修复线短路检测方法流程图；

图3是本发明方法的检测示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。