[发明专利]自动调整主板测试流程的系统及其实现方法

说明书

【技朮领域】

本发明涉及一种自动调整主板测试流程的系统及其方法。

【背景技朮】

在主板测试中，目前是依据个人经验来安排不同测试项的先后顺序，而测试项在不同主板中的测试时间有一些差别，测试失败的情况也不尽相同。有一些测试项测试时间长，也有一些测试项由于各种原因容易测试失败，如果把一些容易失败的测试项放在测试故障率低的测试项后面，或把测试时间短的测试项放在测试时间长的测试项后面，往往需要比较长的事件才能发现这些测试失败的测试项，这样会导致在主板开发阶段发现硬件缺陷或检测软件错误的效率不高，也会导致在主板测试阶段当测试故障率高的时候测试时间过长，测试效率不高。

【发明内容】

因此，本发明的目的主要在于提供一种克服上述技术缺陷，根据测试故障率的高低对主板的测试流程进行自动调整的系统及其实现方法。

为达到上述目的，本发明提供一种自动调整主板测试流程的系统，该系统由识别模块、读取模块、调整模块、测试模块以及保存模块组成，其中，识别模块用于识别主板所需要测试的待测单项；读取模块用于从数据库中读取所需要测试的该待测单项的测试故障率；调整模块用于将该待测单项按照测试故障率由高到低的测试顺序排列，形成新的测试流程；测试模块将所有该待测单项依照新的测试流程利用测试工具进行测试，取得测试结果；保存模块将每个该待测单项的测试结果存入数据库中。

本发明还提供一种自动调整主板测试流程的方法，该方法包括：识别主板所需要测试的待测单项；根据所识别的待测单项，从数据库中读取对应该待测单项的测试故障率；将各待测单项按照测试故障率由高到低的测试顺序排列，形成新的测试流程；将所有该待测单项依照新的测试流程利用测试工具进行测试，取得测试结果；将每个该待测单项的测试结果存入数据库中。

特别地，所述待测单项包含CPU、内存、硬盘、光驱、南桥芯片组、北桥芯片组、PCI总线。

相较于现有技术，本发明的自动调整主板测试流程的系统及其实现方法，根据各项测试的故障率对测试流程进行调整，优先测试故障率高的测试项，避免在主板开发阶段发现硬件缺陷或检测软件错误的效率不高的弊端，提高测试的效率。

【附图说明】

图1为本发明自动调整主板测试流程的系统的连接框图；

图2为本发明自动调整主板测试流程的方法的流程图；

图3为本发明自动调整主板测试流程的方法的举例说明。

【具体实施方式】

下面，结合附图所示，对本发明的具体实施例做详细说明：

本发明提供一种自动调整主板测试流程的系统及其实现方法，根据各项测试的故障率对测试流程进行调整，优先测试故障率高测试项，提高测试效率，请参阅图1，为本发明自动调整主板测试流程的系统的连接框图，如图所示，所述自动调整主板测试流程的系统1由识别模块11、读取模块12、调整模块13、测试模块14以及保存模块15组成，其中，所述识别模块11用于识别主板所需要测试的待测单项；读取模块12用于从数据库中读取所需要测试的该待测单项的测试故障率；调整模块13用于将该待测单项按照测试故障率由高到低的测试顺序排列形成新的测试流程；测试模块14将所有该待测单项依照新的测试流程利用测试工具进行测试，取得测试结果；保存模块15将每个该待测单项的测试结果存入数据库中。

请参阅图2，为本发明自动调整主板测试流程的方法的流程图，如图所示，该方法包括以下步骤：

步骤21：识别主板所需要测试的待测单项；

步骤22：根据所识别的待测单项，从数据库中读取待测单项的测试故障率；

步骤23：调整待测单项的测试顺序，将待测单项按照测试故障率由高到低的测试顺序排列，形成新的测试流程；

步骤24：将所有该待测单项依照新的测试流程利用测试工具进行测试，取得测试结果；

步骤25：将每个该待测单项的测试结果存入数据库中；

步骤26：确认是否有下个待测主板，若有，则转入步骤21重新进行测试，若否，则结束测试。

于本实施例中，所述测试结果包括测试时间和测试通过情况，测试时间为待测单项的平均测试时间，即测试时间＝每次测试时间的总和/总测试次数，各待测单项的测试包括通过和不通过两种情形，因此测试通过情况由测试通过次数、测试故障次数组成，测试不通过则测试故障次数加1，测试通过则测试通过次数加1。