[发明专利]黑阶调整装置及黑阶调整方法有效
| 申请号: | 201310319414.6 | 申请日: | 2013-07-26 |
| 公开(公告)号: | CN104349085B | 公开(公告)日: | 2017-09-22 |
| 发明(设计)人: | 陈柏璋;彭源智 | 申请(专利权)人: | 恒景科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H04N5/367 | 分类号: | H04N5/367;H04N5/374;H04N9/04 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 陈松涛,韩宏 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 调整 装置 方法 | ||
1.一种黑阶调整方法,用于具有像素阵列的互补金属氧化物半导体(CMOS)影像传感器,所述像素阵列包括多个暗行及多个活动行,所述黑阶调整方法包括下列步骤:
计算来自所述多个暗行的多个像素的平均值,其中所述平均值包括整数部分及小数部分;
依据所述整数部分计算黑阶控制偏移值;
依据所述小数部分产生混色遮罩;
将所述混色遮罩应用至所述多个活动行的多个像素;以及
将所计算的所述黑阶控制偏移值加至来自所述多个活动行中已混色后的所述多个像素以产生多个结果像素。
2.根据权利要求1所述的黑阶调整方法,其中计算所述平均值的步骤还包括:
计算所述多个暗行的所述多个像素的加总值;
将所述加总值除以所述多个暗行的所述多个像素的数量以产生所述平均值。
3.根据权利要求1所述的黑阶调整方法,其中计算所述黑阶控制偏移值的步骤还包括:
将预定黑阶值减去所述整数部分以计算所述黑阶控制偏移值。
4.根据权利要求1所述的黑阶调整方法,其中计算所述混色遮罩的步骤还包括:
分别比较所述小数部分及在阈值图中的各元素;
若所述元素小于所述小数部分,设定在所述混色遮罩中的所述相关元素为1;以及
若所述元素不小于所述小数部分,设定在所述混色遮罩中的所述相关元素为0。
5.根据权利要求4所述的黑阶调整方法,其中应用所述混色遮罩至所述多个活动行的所述多个像素的步骤还包括:
将所述多个活动行的所述多个像素减去在所述混色遮罩中的所述相关像素以产生所述多个结果像素。
6.一种黑阶调整装置,用于具有像素阵列的互补金属氧化物半导体(CMOS)影像传感器,所述像素阵列包括多个暗行及多个活动行,所述黑阶调整装置包括:
运算单元,耦接至所述多个暗行,用以计算来自所述多个暗行的多个像素的平均值,其中所述平均值包括整数部分及小数部分,且所述运算单元还依据所述整数部分计算黑阶控制偏移值;
遮罩产生单元,耦接至所述运算单元,用以依据所述小数部分产生混色遮罩;
混色处理单元,耦接至所述遮罩产生单元及所述多个活动行,用以应用所述混色遮罩至来自所述多个活动行的多个像素;以及
偏移计算单元,用以将所计算的所述黑阶控制偏移值加至来自所述多个活动行中已混色后的所述多个像素以产生多个结果像素。
7.根据权利要求6所述的黑阶调整装置,其中所述运算单元还计算所述多个暗行的像素的加总值,并将所述加总值除以所述多个暗行的所述多个像素的数量以产生所述平均值。
8.根据权利要求6所述的黑阶调整装置,其中所述运算单元还将预定黑阶值减去所述整数部分以计算所述黑阶控制偏移值。
9.根据权利要求6所述的黑阶调整装置,其中所述遮罩产生单元还分别比较所述小数部分及在阈值图中的各元素;
其中若所述元素小于所述小数部分,所述遮罩产生单元设定在所述混色遮罩中的所述相关元素为1;
其中若所述元素不小于所述小数部分,所述遮罩产生单元设定在所述混色遮罩中的所述相关元素为0。
10.根据权利要求9所述的黑阶调整装置,其中所述混色处理单元还将所述多个活动行的所述多个像素减去在所述混色遮罩中的所述相关像素以产生所述多个结果像素。
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