[发明专利]一种二价汞离子的检测方法有效
申请号: | 201310319387.2 | 申请日: | 2013-07-26 |
公开(公告)号: | CN103389293A | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | 龙峰 | 申请(专利权)人: | 中国人民大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 关畅 |
地址: | 100872 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 二价 离子 检测 方法 | ||
1.一种检测Hg2+浓度的方法,包括如下步骤:
1)将表面修饰了单链DNA分子A的倏逝波光纤传感探头甲伸入到含一末端经荧光素修饰的单链DNA分子B的系列不同浓度Hg2+的标准溶液中进行反应,使Hg2+与所述一末端经荧光素修饰的单链DNA分子B上的T-T碱基错配结构通过离子键形成T-Hg2+-T复合物,并使未形成T-Hg2+-T复合物的所述一末端经荧光素修饰的单链DNA分子B通过碱基互补配对的方式与所述单链DNA分子A相结合;
检测所述探头甲收集到的所述与所述单链DNA分子A相结合的所述一末端经荧光素修饰的单链DNA分子B发出的荧光强度信号值;
建立所述标准溶液中Hg2+浓度与所述荧光强度信号值的函数关系式;
2)将所述表面修饰了单链DNA分子A的倏逝波光纤传感探头乙伸入到含一末端经荧光素修饰的单链DNA分子B的待测溶液中进行反应,使Hg2+与所述单链DNA分子B上的T-T碱基错配结构通过离子键形成T-Hg2+-T复合物,并使未形成T-Hg2+-T复合物的所述一末端经荧光素修饰的单链DNA分子B通过碱基互补配对的方式与所述单链DNA分子A相结合;
检测所述探头乙收集到的所述与所述单链DNA分子A相结合的所述一末端经荧光素修饰的单链DNA分子B发出的荧光信号强度值X;
3)将所述荧光信号强度X代入所述函数关系式中,计算得到所述待测溶液中Hg2+浓度;
所述单链DNA分子B能与所述单链DNA分子A通过碱基互补配对而结合;所述单链DNA分子B上还含有能与Hg2+通过离子键形成T-Hg2+-T复合物的T-T碱基错配结构,形成T-Hg2+-T复合物的DNA分子B不能与单链DNA分子A通过碱基互补配对而结合。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述单链DNA分子B为序列表序列1所示的单链DNA分子。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于:所述单链DNA分子A为序列表序列2和/或3所示的单链DNA分子。
4.根据权利要求1—3中任一所述的方法,其特征在于:所述标准溶液和所述待测溶液中的所述一末端经荧光素修饰的单链DNA分子B的浓度为10~50nmol/L。
5.根据权利要求1—4中任一所述的方法,其特征在于:所述反应的时间为2—10分钟。
6.根据权利要求1—5中任一所述的方法,其特征在于:所述标准溶液和所述待测溶液的溶剂为水。
7.根据权利要求1—6中任一所述的方法,其特征在于:在步骤1)后、步骤2)前,还包括将所述表面修饰了单链DNA分子A的倏逝波光纤传感探头甲上的与所述单链DNA分子A相结合的所述一末端经荧光素修饰的单链DNA分子B去除的步骤,获得所述探头乙;
所述去除具体可为用pH为1.9的5g/L的SDS溶液清洗所述探头甲的步骤。
8.根据权利要求1—7中任一所述的方法,其特征在于:所述表面修饰了单链DNA分子A的倏逝波光纤传感探头甲是按照包括如下步骤的方法得到的:
将所述倏逝波光纤传感探头表面硅烷化后,浸入含一末端经NH2-(CH2)n-修饰的所述单链DNA分子A的溶液Ⅰ中,4℃反应;
所述倏逝波光纤传感探头侧壁的表面积与所述溶液Ⅰ中所述一末端经NH2-(CH2)n-修饰的所述单链DNA分子A的浓度之比为41.4mm2:0.5μmol/L;
所述n为3—10。
9.一种检测Hg2+的试剂或试剂盒,其特征在于:含有序列表序列1所示的单链DNA分子,或含有一末端经荧光素修饰的序列表序列1所示的单链DNA分子。
10.根据权利要求9所述的试剂或试剂盒,其特征在于:含有序列表序列2和/或3所示的单链DNA分子,或含有一末端经NH2-(CH2)n-修饰的序列表序列2和/或3所示的单链DNA分子,所述n为3—10。
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