[发明专利]存储器的检测方法有效
| 申请号： | 201310317888.7 | 申请日： | 2013-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN103366831B | 公开（公告）日： | 2018-08-21 |
| 发明（设计）人： | 钱亮;任栋梁 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 吴靖靓;骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储器 检测 方法 | ||
1.一种存储器的检测方法，其特征在于，包括：
在存储器中写入预设数据；
在第一测试条件下对写入所述预设数据的存储器进行第一次读取操作，根据所述第一次读取操作的读取结果与第一阈值的比较结果获得第一读取数据；
在所述第一读取数据与所述预设数据相同时，在所述第一测试条件下对写入所述预设数据的存储器进行第二次读取操作，根据所述第二次读取操作的读取结果与第二阈值的比较结果获得第二读取数据；
根据所述第二读取数据与所述预设数据的比较结果对所述存储器进行判定操作；
所述第二阈值大于所述第一阈值时，所述对所述存储器进行判定操作包括：
在所述第一测试条件下，对所述存储器进行第三次读取操作，根据第三次读取操作的读取结果与第三阈值的比较结果获得第三读取数据，在所述第三读取数据与所述预设数据相同时判定所述存储器合格；其中，所述第三阈值小于所述第一阈值。
2.如权利要求1所述的存储器的检测方法，其特征在于，所述对所述存储器进行判定操作包括：在所述第二读取数据与所述预设数据相同时判定所述存储器合格。
3.如权利要求1所述的存储器的检测方法，其特征在于，所述第二阈值小于所述第一阈值时，所述对所述存储器进行判定操作包括：
在所述第一测试条件下，对所述存储器进行第三次读取操作，根据第三次读取操作的读取结果与第三阈值的比较结果获得第三读取数据，在所述第三读取数据与所述预设数据相同时判定所述存储器合格；其中，所述第三阈值大于所述第一阈值。
4.如权利要求1所述的存储器的检测方法，其特征在于，还包括：在所述第一测试条件下对存储器进行数据保持的测试。
5.如权利要求1所述的存储器的检测方法，其特征在于，所述预设数据包括：所述存储器的配置信息数据、条码信息数据或者软件信息数据。
6.如权利要求1所述的存储器的检测方法，其特征在于，还包括：在对所述存储器进行第一次读取操作之前，对所述存储器进行烘焙。
7.如权利要求6所述的存储器的检测方法，其特征在于，所述对所述存储器进行烘焙的步骤包括：在200℃～300℃的温度范围内，对所述存储器进行大于或者等于两天的烘焙。
8.如权利要求6所述的存储器的检测方法，其特征在于，还包括：在对所述存储器进行烘焙之前，在第二测试条件下对所述存储器进行读、写或者擦除测试。
9.如权利要求1所述的存储器的检测方法，其特征在于，所述读取操作的读取结果为电压值或者电流值。
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