[发明专利]PTC/NTC双控温控制装置

说明书

技术领域

本发明涉及温度控制技术领域，特别涉及一种PTC/NTC双控温控制装置。

背景技术

目前，国内市场的传统发热垫，电热毯等电热产品的温度控制电路主要原理是控制温度的开关的通断，这种温度控制电路原理简单，但是在故障检测方面有明显的不足，而且控制温度的开关经常处于通断状态，因此难免会失控，而现有技术的温度控制电路不注重开关失控的检测，导致产品一直被加热，直到发热线烧坏，造成不必要的人员伤亡和财产损失。

发明内容

（一）要解决的技术问题

本发明的目的就是要克服现有技术的缺点：

1）温度控制电路不注重开关失控的检测的缺点，旨在提供一种增强故障检测能力的PTC（正温度系数）与NTC（负温度系数）双控温电路。

2）NTC层负载金属线断线检测不到的缺点，旨在提供一种检测金属线是否断线的保护装置。

（二）技术方案

为达到上述目的，本发明的PTC/NTC双控温控制装置，包括控制器和发热体，其中控制器包括微处理器、直流电压电路、同步信号电路、档位设置、按键功能选择、基准电压电路、指示电路，发热体包括PTC发热线、NTC层、金属线；所述控制器还包括第一比较器、第二比较器、第三比较器、NTC负载检测、NTC电压取样、光耦电路、PTC电压取样和可控硅电路；

第一比较器：该电路一端与PTC电压取样相接，另一端与基准电压相接，输出端与微处理器相接；

第二比较器：该电路一端与基准电压相接，另一端与NTC电压取样相接，输出端与微处理器相接；

第三比较器：该电路一端与基准电压相接，另一端与NTC负载检测相接，输出端与微处理器相接；

NTC负载检测：该电路一端与第三比较器相接，另一端与金属线相接；

NTC电压取样：该电路一端与第二比较器相接，另一端与金属线相接；

光耦电路：该电路控制端的一端与微处理器相接，另一端接地；被控制端的一端接交流电源，另一端接金属线；

PTC电压取样：该电路一端与第一比较器相接，另一端与工作可控硅一端相接，再一端接地；

可控硅电路：该电路一端与微处理相接，另一端与PTC电压取样相接，再一端与PTC发热线相接。

进一步，所述可控硅电路包括第四比较器、直流基准电压电路、可控硅短路检测电路、保护可控硅和工作可控硅，所述第四比较器与所述直流基准电压电路以及可控硅短路检测电路电气连接，所述保护可控硅、所述工作可控硅和所述PTC电压取样电路电气连接；

进一步，所述可控硅电路包括相互电气连接的可控硅短路检测电路、第一工作可控硅和第二工作可控硅。

进一步，所述工作可控硅为一双向可控硅，所述保护可控硅为一单向可控硅所述第四比较器的同相端与可控硅短路检测相接再与所述双向可控硅连接，所述第四比较器的反相端连接直流基准电压。

进一步，所述第一和第二工作可控硅均为双向可控硅。

进一步，所述光耦电路可以用可控硅代替。

（三）有益效果

与现有技术相比，本发明的技术方案具有以下优点：能检测到金属线的断开情况，以及检测到可控硅正半波和负半波短路情况，避免可控硅短路引起不必要的事故。

附图说明

图1是本发明PTC/NTC双控温控制装置电路原理框图；

图2是本发明PTC/NTC双控温控制装置实施例一的电路原理框图；

图3是本发明PTC/NTC双控温控制装置实施例一的电路原理图；

图4是本发明单个工作可控硅短路检测电路原理图；

图5是本发明PTC/NTC双控温控制装置的实施例二的电路原理框图；

图6是本发明PTC/NTC双控温控制装置实施例二的电路原理图；

图7是本发明双工作可控硅短路检测电路原理图；

图8是本发明金属线检测电路原理图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

实施例一