[发明专利]一种交会测量定向装置、系统及方法无效
| 申请号： | 201310308980.7 | 申请日： | 2013-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN103398694A | 公开（公告）日： | 2013-11-20 |
| 发明（设计）人： | 王苗;曹焱;郝伟;刘文 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01C1/02 | 分类号： | G01C1/02;G01C15/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 陈广民 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 交会 测量 定向 装置 系统 方法 | ||
1.一种交会测量定向装置，包括经纬仪，所述经纬仪包括经纬仪机座和设置在经纬仪机座上的经纬仪望远镜组件；其特征在于：还包括左右对称设置在经纬仪望远镜组件上的激光发射器和PSD位置传感器。
2.一种交会测量定向系统，其特征在于：包括两个相对设置的交会测量定向装置；所述交会测量定向装置包括经纬仪、激光发射器和PSD位置传感器；
所述经纬仪包括经纬仪机座和设置在经纬仪机座上的经纬仪望远镜组件；
所述激光发射器与PSD位置传感器均设置在经纬仪望远镜组件上；两个交会测量定向装置的激光发射器与PSD位置传感器相互对准。
3.基于权利要求2所述交会测量定向系统的交会测量定向方法，其特征在于：包括下述步骤：
1】架设装置并确定两台装置定向基线；
2】将安放在基线上的两台装置整平；
3】开启装置，通过两个经纬仪的粗瞄器进行相互粗瞄；
4】粗瞄后，将两台装置的激光发射器与PSD位置传感器相互对准精瞄，直至两台装置的激光发射器的光斑均出现在相对装置中的PSD位置传感器中心；
5】记录两台装置之间的方位角、俯仰角或高差。
4.基于权利要求2所述交会测量定向系统的交会测量定向方法，其特征在于：包括下述步骤：
1】架设装置并确定两台装置定向基线；
2】将安放在基线上的两台装置整平；
3】开启装置，通过两个经纬仪的粗瞄器进行相互粗瞄；
4】粗瞄后，将两台装置的激光发射器与PSD位置传感器相互对准精瞄，直至两台装置的激光发射器的光斑均出现在相对装置中的PSD位置传感器中心；
5】设置两台装置方位角角度为零，记录两台装置之间俯仰角或高差。
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