[发明专利]多层次多特征约束下的光学和SAR影像自动配准方法有效

专利信息
申请号: 201310307335.3 申请日: 2013-07-19
公开(公告)号: CN103345757A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 眭海刚;徐川;刘俊怡;华风 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 严彦
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 多层次 特征 约束 光学 sar 影像 自动 方法
【权利要求书】:

1.一种多层次多特征约束下的光学和SAR影像自动配准方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,对初始的光学影像和SAR影像分别预处理;

步骤2,对步骤1所得预处理后的光学影像和SAR影像,分别进行多尺度水平集分割,得到面分割结果;

步骤3,利用形状相似曲线相似性测度算法对步骤2获得的光学与SAR影像面分割结果进行判断,如果有存在相似的面目标,则转到步骤4,否则,执行步骤5;

步骤4,步骤3所得所有相似的面目标构成的集合形成疑似同名区域Ω0,得到粗配准结果,对疑似同名区域Ω0中的面分割对象计算得到疑似匹配面目标质心点集,转步骤7;

步骤5,利用小波变换对初始的光学影像和SAR影像进行多尺度分析,在最粗尺度影像上进行低层直线特征提取及低层点集匹配,得到低层次上的变换参数;

步骤6,对步骤1所得预处理后的光学和SAR影像,进行高层直线特征提取,同时利用低层次上的变换参数,定义控制点匹配度函数,进行高层点集初匹配,得到初匹配后的候选控制点对;

步骤7,基于步骤4所得疑似匹配面目标质心点集或步骤6所得初匹配后的候选控制点对,利用无向图从结构上精确判断出匹配的点对,同时剔除误匹配对,对匹配点对采用多项式变换模型求解变换参数,得到最终配准结果。

2.根据权利要求1所述多层次多特征约束下的光学和SAR影像自动配准方法,其特征在于:步骤5包括以下子步骤,

a)利用小波变换分别对初始的光学影像和SAR影像进行多尺度分解,得到低分辨率影像;

b)低层特征提取,包括在光学影像的低分辨率影像和SAR影像的低分辨率影像上分别提取直线;

c)低层直线预处理,包括对提取的所有直线按长度从大到小排序,从最长的直线起统计斜率相近的线段,若线段间的距离值小于预设阈值则认为是属于同一条直线段,然后保留同一方向上最长的直线;

d)低层交点求取,包括对预处理后的直线求交点,将求取的交点集作为控制点集;

e)低层点集匹配,包括利用高斯混合模型进行点匹配,获取低层次上的变换参数。

3.根据权利要求1所述多层次多特征约束下的光学和SAR影像自动配准方法,其特征在于:步骤6包括以下子步骤,

a)高层特征提取,包括在初始的光学影像和SAR影像上分别提取直线;

b)高层直线预处理,包括对提取的所有直线按长度从大到小排序,从最长的直线起统计斜率相近的线段,若线段间的距离值小于预设阈值则认为是属于同一条直线段,然后保留同一方向上最长的直线;

c)高层交点求取,包括对预处理后的直线求交点;

d)高层点集初匹配,包括利用步骤5中子步骤e)所获取的低层次上的变换参数,定义控制点匹配度函数,若控制点集中某一点对的匹配度大于预设阈值,则保留作为候选控制点对,

控制点匹配度函数定义为:

f(Pm,Pn)=|k1-k1||k1|+|k1|+1+|k2-k2||k2|+|k2|+1+|d1-d2|d1+d2+1+d1+d22T]]>

其中,k1和k2是光学影像上两条直线M1、M2的斜率,Pm为M1与M2的交点,k'1和k'2是SAR影像上两条直线N1、N2的斜率,Pn为N1与N2的交点,d1是线段M1的中点到N1所在直线的距离,d2是线段M2的中点到N2所在直线的距离,T为粗配准精度。

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