[发明专利]气体传感器和用于制造这种气体传感器的方法在审
| 申请号: | 201310306951.7 | 申请日: | 2013-07-02 |
| 公开(公告)号: | CN103529108A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
| 发明(设计)人: | A·克劳斯;W·达夫斯 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号: | G01N27/414 | 分类号: | G01N27/414;H01L29/772 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 宣力伟;杨国治 |
| 地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 气体 传感器 用于 制造 这种 方法 | ||
1.气体传感器,包括具有衬底(12)的场效应晶体管,在所述衬底上布置有能够暴露于气体的栅电极(22)、源电极(18)和漏电极(20),其中在所述衬底(12)和所述栅电极(22)之间布置有电绝缘部(24),其中所述电绝缘部(24)构造为层系统,并且其中将规定的、稳定的电荷引入到所述层系统的至少一层(26、28、30)中。
2.根据权利要求1所述的气体传感器,其中所述层系统的至少一层(26、28、30)具有规定的结晶度。
3.根据权利要求2所述的气体传感器,其中所述结晶度存在于从大于或者等于20%直至小于或者等于60%的范围内。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的气体传感器,其中所述电绝缘部(24)的层系统包括三层(26、28、30)。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的气体传感器,其中将规定的、稳定的电荷引入到所述层系统的中间层(28)中并且必要时所述层系统的中间层(28)具有规定的结晶度。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的气体传感器,其中至少一层(26、28、30)包括氧化物,如尤其是氧化铝、氧化硅、氧化铪、氧化钽、氧化钛、氧化锆、氧化锡、氧化钆、氧化铈、氧化镧、氧化镨、氧化铟、氧化钨;并且/或者其中至少一层(26、28、30)包括混合氧化物,如尤其是锆铈氧化物、钆铈氧化物、钇锆氧化物、钇铪氧化物;并且/或者其中至少一层(26、28、30)包括具有钙钛矿结构的氧化物,尤其是钛酸钙、钛酸钡、钛酸锶;并且/或者其中至少一层(26、28、30)包括非氧化物陶瓷,尤其是氮化硅、氮化硼、氮化钛、碳化硅、硅化钽、硅化钨,和/或相应的硼化物,即硼化钛、硼化钽、硼化镧、硼化钨。
7.根据权利要求6所述的气体传感器,其中所述层系统的与所述衬底(12)相邻布置的层(26)包括氧化硅,并且/或者其中所述层系统的中间层(28)包括氮化硅,并且/或者其中所述层系统的外侧层(30)包括氧化铝或者氧化硅。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的气体传感器,其中所述电绝缘部(24)具有厚度,所述厚度处于小于或者等于500nm、优选小于或者等于100nm的范围内。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的气体传感器,其中所述层系统的与所述衬底(12)相邻布置的层(26)包括衬底材料的氧化物并且尤其具有厚度,所述厚度处于小于或者等于100nm、优选小于或者等于50nm的范围内。
10.用于制造用来探测包含在流体流中的物质的气体传感器(10)、尤其是根据权利要求1至9中任一项所述的气体传感器(10)的方法,所述方法包括下列方法步骤:
a)提供衬底(12);
b)将电绝缘部(24)施加到所述衬底(12)的至少一个部分区域上,其中所述电绝缘部(24)具有由多层(26、28、30)构成的层系统;
c)将额外的、稳定的电荷引入到所述层系统的层(26、28、30)中的至少一层中;并且
d)将导电层施加到所述电绝缘部(24)上。
11.根据权利要求10所述的方法,其中实现了所述层系统的层(26、28、30)中的至少一层的至少部分的结晶。
12.根据权利要求11所述的方法,其中通过温度升高的情况下对相应层(26、28、30)的处理实现了至少部分的结晶。
13.根据权利要求10至12中任一项所述的方法,其中通过将电压施加到至少一层(26、28、30)上引入电荷。
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