[发明专利]一种金相试样打磨抛光设备及其使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及金相实验领域，特别涉及一种金相试样打磨抛光设备及其使用方法。

背景技术

实验室用金属金相试样，用来测试金属材料的微观组织，晶粒度及夹杂情况。金相组织分析对于材质鉴定与分析，失效分析和材料老化研究有着重要的意义。在实验室金相制样过程中，往往会出现大型块状试样，其长宽往往会达到150mm，由于结构形状、分析部位、取样特征等因素，无法进行进一步切割，即在实验室还没有一台能够对大型块状试样进行表面打磨抛光的设备，而通过现有的普通台式抛光机无法进行这样大型块状试样的制样，因此迫切需要一种新的抛光设备以适用不同的需求。

发明内容

本发明的目的是提供一种能够对大型金相试样进行打磨抛光的设备。

为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：一种金相试样打磨抛光设备，它包括固定底板、用于固定金相试样且与所述的固定底板相滑动连接的调位机构、用于抛光的电动机和抛光磨头、安装在固定板上用于支撑所述的电动机的支撑架，所述的固定底板的上端面的长度方向为纵向，宽度方向为横向，所述的调位机构包括固定在固定底板上且沿横向延伸的下滑轨、滑动连接在所述的下滑轨上的横向底板、固定在所述的横向底板上且沿纵向方向延伸的上滑轨、滑动连接在所述的上滑轨上的纵向底板以及固定在所述的纵向底板上方用于固定大金相试样的卡座，所述的卡座至少有一对。

优化的，所述的支撑架包括与所述固定板相垂直且固定连接的竖直支撑板、一端分别与所述的竖直支撑板相铰链的第一支撑杆与第二支撑杆，所述的第一支撑杆和第二支撑杆的另一端分别于所述的电动机相铰链，所述的竖直支撑板、第一支撑杆、第二支撑杆以及电动机组成四连杆机构。

进一步地，所述的第一支撑杆的长度最短，所述的电动机与所述第一支撑杆以及第二支撑杆铰链点之间的距离与第一支撑杆的长度之和大于第二支撑杆的长度。

优化的，成对的所述的卡座相对设置，其相对的侧面上开设有螺纹通孔，所述的螺纹通孔内螺纹连接有用于固定大金相试样的螺栓。

优化的，所述的上滑轨上转动连接有沿纵向方向延伸的丝杆，所述的丝杆的转轴为其轴线且其与纵向底板相螺纹连接，所述的纵向底板随丝杆的转动而移动。

优化的，所述的固定底板的下方安装有多个用于使其上端面平行于水平面的平衡支座，所述的平衡支座由普通碳钢制成，其表面粗糙度不低于16um，平面度为0.01～0.03um。

优化的，所述的抛光磨头与电动机的转轴之间连接有两个相匹配的斜齿轮，所述的抛光磨头的转轴与电动机的转轴相垂直。

优化的，所述的电动机的输出功率为0.5～0.75w，转速为1500～3000r/min，当进行粗磨时，所述的磨头为100#～400#的砂纸，当进行抛光时，所述的磨头为涂研磨膏的毡轮。

优化的，所述的卡座、横向底板以及纵向底板由304L或316L不锈钢制成。

本发明还提供了上述金相试样打磨抛光设备的使用方法，其包括以下步骤：

a、根据大金相试样的实际情况选着适合的抛光磨头，将磨头安装在电动机上；

b、将每块大金相试样安放在成对的卡座之间，利用螺栓使其固定；

c、根据大金相试样的外形，调整支撑架使抛光磨头靠近大金相试样；

d、启动电动机，在抛光磨头转动的过程中，调整横向底板或是纵向底板从而对大金相试样表面进行均匀打磨，直至获得满意精度；

e、关闭电动机，上移抛光磨头，退出卡座上的螺栓，取出大金试样即可。

本发明的有益效果在于：利用本发明对大金相试样进行打磨时，将大金相试样固定于两块卡座之间，调节好抛光磨头的位置既能进行打磨，其结构简单，装夹方便，极大地提高了大金相试样的打磨抛光的效率。

附图说明

附图1为本发明的结构示意图；

附图2为本发明的纵向底板与卡座的连接结构示意图；

附图中：1、平衡支座；2、固定底板；3、下滑轨；4、把手；5、横向底板；6、丝杆；7、纵向底板；8、上滑轨；9、卡座；10、抛光磨头；11、电动机；13、竖直支撑板；14、支撑架；15、调位机构；16、斜齿轮；121、第一支撑杆；122、第二支撑杆。

具体实施方式

下面结合附图所示的实施例对本发明作以下详细描述：

如图1所示，本金相试样打磨抛光设备用于对大型块状金相试样打磨，一般指长宽达到150mm的金相试样，它包括固定底板2、调位机构15、电动机11、抛光磨头10、支撑架14。