[发明专利]一种二阶补偿基准电压产生电路有效

专利信息
申请号: 201310305983.5 申请日: 2013-07-19
公开(公告)号: CN103365331A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 谢生;付友;毛陆虹;张世林 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G05F1/567 分类号: G05F1/567
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 温国林
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 补偿 基准 电压 产生 电路
【权利要求书】:

1.一种二阶补偿基准电压产生电路,其特征在于,所述二阶补偿基准电压产生电路包括:PTAT电流生成电路、PTAT电流平方生成电路、第四PMOS管和第五电阻,其中,

所述PTAT电流生成电路包括:第一PMOS管的源级接电源,第一PMOS管漏极接第三电阻,所述第三电阻的另一端接第六NPN晶体管的基极和集电极,所述第六NPN晶体管的发射极接第五电阻,所述第五电阻另一个端口接地;第二PMOS管源级接所述电源,第二PMOS管漏级接第二电阻,所述第二电阻另一端接第一电阻,第一电阻的另一端接第七NPN晶体管基极和集电极,所述第七NPN晶体管发射极接第五电阻,第五电阻另一个端口接所述地;运算放大器的反向输入端接所述第六NPN晶体管基极和集电极,所述运算放大器的同向输入端接所述第二电阻和所述第一电阻之间,所述运算放大器输出端接所述第一PMOS管、所述第二PMOS管的栅级;

所述PTAT电流平方生成电路包括:第五PMOS管的源级接所述电源,所述第五PMOS管栅级接所述第一PMOS管、所述第二PMOS管栅级,所述第五PMOS管漏级接第一NPN晶体管集电极和基极,所述第一NPN晶体管发射级接第三NPN晶体管集电极和基极,所述第三NPN晶体管发射级接地;第二NPN晶体管集电极接所述电源,所述第二NPN晶体管基极接第一NPN晶体管基极,所述第二NPN晶体管发射级接第四NPN晶体管集电极,所述第四NPN晶体管基级接第三NPN晶体管基极,所述第四NPN晶体管发射级接地;第四电阻一端接所述第四NPN晶体管集电极,另一端接所述地;第三PMOS管源级接所述电源,所述第三PMOS管栅级和漏极短接,所述第三PMOS管漏极接第五NPN晶体管集电极,所述第五NPN晶体管基极接所述第四NPN晶体管集电极,所述第五NPN晶体管发射级接所述地;

所述第四PMOS管源级接所述电源,所述第四PMOS管栅级接所述第三PMOS管栅级,第四PMOS管漏级接所述第五电阻。

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