[发明专利]一种光电子器件的光学参数检测装置与方法

权利要求书

1.一种光电子器件的光学参数检测装置，包括试验箱（1）、偏振控制器（5）、光耦合器（6）、1×N光开关（7）、光功率计（12）、光线（15）、光纤终止器（13），其特征在于：试验箱（1）两旁分别布置一台2×N光开关（3），试验样品（2）通过光纤（15）与两台2×N光开关（3）的端口相连；

还包括2×2光开关（4）、控制器（14）、电路（16），计算机（17），以及由波分复用器（9）、宽带光源（10）、1×N光开关（7）、光纤终止器（13）、单色波激光光源（11）构成多波长选择光源；

所述计算机（17）通过电学接口，由电路（16）与实验箱（1）、回损仪（8）和光功率计（12）相联；

所述控制器（14）分别与计算机（17）、2×N光开关（3）、2×2光开关（4）、偏振控制（5）相联。

2.根据权利要求1所述的光电子器件的光学参数检测装置，其特征在于：所述宽带光源（10）与波分复用器（9）相连；波分复用器（9）各通道，以及单色波激光光源（11）分别与1×N光开关（7）相联。

3.根据权利要求1所述的光电子器件的光学参数检测装置，其特征在于：2×N光开关（3）与光纤终止器（13）通过串联的2×2光开关（4）、偏振控制器（5）、光耦合器（6），最终与回损仪(8)相联。

4.根据权利要求1 所述的光电子器件的光学参数检测装置，其特征在于：2×2光开关（4）与2×N光开关（3）以及偏振控制（5）和光功率计（12）相联。

5.根据权利要求1所述的光电子器件的光学参数检测装置，其特征在于：2×N光开关（3）采用若干2×2光开关（4）串联的方式相联。

6.一种光电子器件的光学参数检测方法，其特征在于宽带光源（10）、波分复用器（9）和1×N光开关（7）构成多波长选择光源：

光源选择包括以下步骤，首先波分复用器（9）将宽谱光源按照波分复用器件的谱特性分为许多功率不等的窄带光源，然后利用1×N光开关（7）的选择功能，让一路光通过光开关的一个光端口输出，从而实现了不同频谱光源的分离和选择。

7.根据权利要求7所述一种光电子器件的光学参数检测方法，其特征在于通过1×N光开关（7）的光路选择，使得从光源射出的光源通过样品的光路后，达到光纤终止器（13），再利用光路上的回损仪（8）测量回损值，实现光电子器件样品的回波损耗测量。

8.根据权利要求7所述一种光电子器件的光学参数检测方法，其特征在于计算机（17）通过控制器（14）控制光开关的功能，记录不同光通道的光功率计、回损仪的检测结果，获得试验样品（2）的光学参数值，同时也记录环境实验箱的各种实验值，并计算出不同时间、不同实验条件下的光学参数值变化。