[发明专利]半导体发光器件或模组在线多功能测试系统及方法

权利要求书

1.一种半导体发光器件或模组在线多功能测试系统，其特征在于，包括：

多个LED器件模组负载装置(8)，用于放置不同种类的半导体发光器件或模组；

多个光特性探测及控制装置(2)，用于将接收自半导体发光器件或模组发出的光信号转换成电信号；

光信号处理分析装置(3)，连接于多个光特性探测及控制装置(2)，用于分析处理光特性探测及控制装置(2)输出的电信号；

多个热特性探测装置(4)，每个热特性探测装置(4)均与一个LED器件模组负载装置(8)相连接，用于探测半导体发光器件或模组的热特性，该热特性包括热阻、结温及空间温度分布；

多个加速多应力控制装置(7)，每个加速多应力控制装置(7)均与一个LED器件模组负载装置(8)相连接或对应，用于给待测半导体发光器件或模组提供加速环境，该加速环境包括恒定基底温度、湿度以及光照；

电特性发生及测试装置(1)，连接于多个LED器件模组负载装置(8)，用于提供点亮待测半导体发光器件所需的电信号，提供半导体发光器件或模组所需的电应力，以及实现测量单颗半导体发光器件或模组的电学特性；

多通道驱动集成控制装置(6)，连接于电特性发生及测试装置(1)及LED器件模组负载装置(8)，用于对LED器件模组负载装置(8)负载的半导体发光器件或模组提供单个激励源，并在不同的LED器件模组负载装置(8)之间切换信号通道，以及使得不同的LED器件模组负载装置(8)分别处于不同电应力条件下进行加速老化，而相互之间不受影响；以及

中央监控及处理计算机(5)，连接于电特性发生及测试装置(1)、光信号处理分析装置(3)、多通道驱动集成控制装置(6)、以及加速多应力控制装置(7)，多个热特性探测装置(4)，利用软件综合控制数据传输、采集及分析。

2.根据权利要求1所述的半导体发光器件或模组在线多功能测试系统，其特征在于，所述半导体发光器件或模组是指不自带驱动的基于一个半导体pn结的发光LED器件及由多颗LED串并联组成的模组，其发射范围可覆盖包括紫外、可见光及红外的整个波段。

3.根据权利要求1所述的半导体发光器件或模组在线多功能测试系统，其特征在于，所述LED器件模组负载装置(8)具有多个负载电路板，该负载电路板用于放置不同种类的多颗半导体发光器件或模组，使不同种类的多颗半导体发光器件或模组在多应力加速老化环境下同时进行不同应力的加速老化，且相互之间不受影响。

4.根据权利要求3所述的半导体发光器件或模组在线多功能测试系统，其特征在于，所述多应力加速老化环境包括电流、温度、湿度及光照。

5.根据权利要求1所述的半导体发光器件或模组在线多功能测试系统，其特征在于，所述LED器件模组负载装置(8)采用串联或并联电阻方式，能够对多颗待测发光二极管器件、模组同时提供加速老化条件，而且如果其中某一个待测发光二极管器件失效，能够不需要手动操作，通过并联电阻使老化得以继续进行。

6.根据权利要求1所述的半导体发光器件或模组在线多功能测试系统，其特征在于，所述电特性发生及测试装置(1)用于控制点亮半导体发光器件或模组所需的电信号，提供半导体发光器件或模组的加速老化电应力，并实现单颗半导体发光器件或模组的电学特性的测试，该电学特性包括电流-电压特性扫描。

7.根据权利要求1所述的半导体发光器件或模组在线多功能测试系统，其特征在于，所述光特性探测及控制装置(2)包括光探测装置及光控制装置，其中光探测装置由光电二极管构成，用于将接收到的光信号转换成电信号；光控制装置是为光探测装置提供工作电压的控制电路。

8.根据权利要求1所述的半导体发光器件或模组在线多功能测试系统，其特征在于，该系统对待测半导体发光器件或模组实现两种操作模式：一种是测试模式，即在预先设定的时间间隔，利用多通道驱动控制装置实现多信号通道的切换，实现对单颗LED光、电、热学性能进行逐个扫描测试；另外一种是老化模式，即对所有LED在特定的结温老化环境中进行老化。