[发明专利]具有屏蔽结构的半导体装置有效
| 申请号: | 201310293957.5 | 申请日: | 2013-07-12 |
| 公开(公告)号: | CN104282664B | 公开(公告)日: | 2018-09-04 |
| 发明(设计)人: | 郭建利;林永昌;林明哲;吴贵盛;林佳芳 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L23/552 | 分类号: | H01L23/552 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
| 地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 屏蔽 结构 半导体 装置 | ||
1.一种具有屏蔽结构的半导体装置,包括:
基底,包括主动面以及背面;
射频电路,设置在该基底的该主动面的一侧;
屏蔽结构,至少设置在该基底中且包围该射频电路,该屏蔽结构接地,其中该屏蔽结构包括屏蔽穿硅电极,该屏蔽穿硅电极没有贯穿该基底;以及
金属内连线系统,设置在该基底的该主动面的一侧,该金属内连线系统包括一连接线路,且该连接线路连接电位信号至该射频电路。
2.如权利要求1所述的具有屏蔽结构的半导体装置,其中该金属内连线系统还包括屏蔽线路,其中该屏蔽结构包括该屏蔽线路。
3.如权利要求2所述的具有屏蔽结构的半导体装置,其中该屏蔽线路电连接该屏蔽穿硅电极。
4.如权利要求1所述的具有屏蔽结构的半导体装置,其中该屏蔽穿硅电极从俯视图来看,为封闭的多边形。
5.如权利要求1所述的具有屏蔽结构的半导体装置,其中该屏蔽穿硅电极从俯视图来看,为具有缺口的多边形。
6.如权利要求5所述的具有屏蔽结构的半导体装置,其中该半导体装置为芯片,且从俯视图来看,该缺口与该基底最靠近该缺口的边缘之间没有任何主动电路。
7.如权利要求5所述的具有屏蔽结构的半导体装置,其中该半导体装置为封装体,该基底、该射频电路、该屏蔽结构以及该金属内连线系统位于芯片中,该芯片位于该封装体中,从俯视图来看,该芯片的该缺口与该封装体最靠近该缺口的边缘之间没有其他芯片。
8.如权利要求1所述的具有屏蔽结构的半导体装置,其中该半导体装置为封装体,且该封装体还包括电路板,其中该电路板通过引线、锡球或重布线层与该连接线路电连接。
9.如权利要求8所述的具有屏蔽结构的半导体装置,其中该引线、该锡球与该重布层位于该基底的该主动面的一侧。
10.如权利要求8所述的具有屏蔽结构的半导体装置,其中该基底依序包括有绝缘层以及半导体层,该半导体层位于该绝缘层上。
11.如权利要求10所述的具有屏蔽结构的半导体装置,其中该绝缘层与该电路板之间没有任何半导体材料。
12.如权利要求1所述的具有屏蔽结构的半导体装置,还包括连接穿硅电极设置于该基底中,其中该连接穿硅电极贯穿该基底。
13.一种具有屏蔽结构的半导体装置,包括:
基底,依序包括有背面、基材、绝缘层、半导体层以及主动面;
射频电路,设置在该半导体层中;
屏蔽结构,至少设置在该半导体层中且包围该射频电路,该屏蔽结构接地,其中该屏蔽结构包括屏蔽穿硅电极,该屏蔽穿硅电极贯穿该半导体层,但没有延伸至该绝缘层;以及
连接穿硅电极,贯穿该基底,且该连接穿硅电极连接电位信号至该射频电路。
14.如权利要求13所述的具有屏蔽结构的半导体装置,还包括金属内连线系统设置于该基底的该主动面的一侧,其中该金属内连线系统包括屏蔽线路,其中该屏蔽结构包括该屏蔽线路。
15.如权利要求14所述的具有屏蔽结构的半导体装置,其中该屏蔽线路电连接该屏蔽穿硅电极。
16.如权利要求13所述的具有屏蔽结构的半导体装置,其中该屏蔽穿硅电极从俯视图来看,为封闭的多边形。
17.如权利要求13所述的具有屏蔽结构的半导体装置,其中该屏蔽穿硅电极从俯视图来看,为具有缺口的多边形。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司,未经联华电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310293957.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





