[发明专利]基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法及其位移传感器解调系统有效

专利信息
申请号: 201310293379.5 申请日: 2013-07-12
公开(公告)号: CN103335600A 公开(公告)日: 2013-10-02
发明(设计)人: 黎敏;舒卓;徐春晖 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 崔友明
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 基于 干涉仪 比值 条纹 计数 及其 位移 传感器 解调 系统
【权利要求书】:

1.基于双F-P干涉仪的比值条纹计数法,其特征在于,包括以下步骤:

1)激光器发出的激光经光纤隔离器、光纤耦合器被分为光强相近的两束光,两束光分别经过A、B两路单模光纤后通过传感单元入射到被测物体表面;

2)A、B两路单模光纤端面的反射光分别和被测物体表面的反射光产生干涉,输出的两路干涉光强信号经过光电探测器接收,转换成电流信号;

3)步骤2)获得的两路电流信号经前置放大单元放大后经DSP信号处理模块的A/D模数转换器采样后转换为数字信号,数字信号经滤除低频噪声后通过运算和计数获得解调结果;

i)具体运算算法步骤如下:

A、B两路单模光纤接收到的干涉光强信号IA、IB分别表示为

IA=IA0cos(φ(t))    (1)

IB=IB0cos(φ(t)+φ0)    (2)

其中,

φ(t)=2π2nL(t)λ---(3)]]>

φ0=2π2nΔdλ---(4)]]>

式中,IA0、IB0分别表示A、B两路单模光纤信号光强幅值,表示F-P腔的腔长L(t)变化引起的相位变化,代表A、B两路单模光纤的初始相位差,由光纤端面抛磨工艺存在的随机位置差△d决定,n表示F-P腔介质折射率,介质为空气时n=1,λ为激光器的工作波长;直接将式(2)除以式(1)得

IBIA=IB0IA0(cos(φ0)-sin(φ0)tan(φ(t)))---(5)]]>

滤去直流项后获得运算数据为ktan(φ(t)),其中为一常数;

ii)具体计数过程如下:

①在DSP信号处理模块的DSP芯片程序设计中引入寄存器、计数器等内存单元来存放记录数据,设置寄存器p1、p2分别记录前一时刻和当前时刻A、B两路光强采样值经上述相除滤波处理后的结果;②根据第一次测量采集后的运算数据ktan(φ(t))预设用于标定脉冲的阈值m,m>k即可;③当p1>+m且p2<-m时,计数器数值加1;当p1<-m且p2>+m时,计数器数值减1;其他情况下计数器均不计数;④最后将计数器数值换算为与相位φ(t)对应的解调结果;

4)将步骤3)获得的解调结果通过DSP芯片控制发送到外设显示单元显示。

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