[发明专利]一种基于光学谐振腔的微粒粒度检测传感器无效

专利信息
申请号: 201310285299.5 申请日: 2013-07-01
公开(公告)号: CN104280321A 公开(公告)日: 2015-01-14
发明(设计)人: 黄辉;渠波;吴海波;刘蓬勃;白敏 申请(专利权)人: 黄辉;渠波;吴海波
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
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地址: 116024 辽宁省大连市*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 光学 谐振腔 微粒 粒度 检测 传感器
【权利要求书】:

1.一种基于光学谐振腔的微粒粒度检测传感器,其特征是:光学谐振腔采用由介质膜布拉格反射镜(DBR)构成的Fabry-Pérot腔;由于谐振腔的谐振效应使得腔内光强度得到大幅提高,增强了腔内颗粒对光的散射效应;同时,由于DBR的反射率对角度敏感,当入射角超过特定阈值时,DBR的反射率急剧降低,因此散射角度超过特定阈值的散射光可以从谐振腔内有效导出。

2.权利要求1所述传感器,由Fabry-Pérot腔、光学透镜和光电探测部分组成。

3.权利要求1所述的特定阈值,具有以下特征:当入射角小于特定阈值时,布拉格反射镜能有效反射光波;当入射角大于特定阈值时,布拉格反射镜对光波的反射率急剧下降,丧失反射镜功能。

4.权利要求1和3所述的布拉格反射镜,可以选择不同的薄膜材料组合,从而调节不同薄膜材料之间的折射率差异,实现对特定阈值的调节。

5.权利要求1所述的所述的光散射效应,具有前向散射或后向散射两种形式,相应的光学透镜和光电探测部分需要放置在Fabry-Pérot腔的后侧或前侧。

6.权利要求4所述的布拉格反射镜,是通过在衬底上交替生长不同折射率的介质薄膜而成,其中的薄膜材料优选Si/SiO2、TiO2/SiO2和GaAs/AlGaAs。

7.权利要求2所述的光电探测部分,可按两种方式实现:①采用电荷耦合元件阵列,对散射光的强分布直接成像;②采用光电探测器,需要转动或移动探测器的位置,从而获得散射光的空间光强分布。

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