[发明专利]一种基于光学谐振腔的微粒粒度检测传感器无效
申请号: | 201310285299.5 | 申请日: | 2013-07-01 |
公开(公告)号: | CN104280321A | 公开(公告)日: | 2015-01-14 |
发明(设计)人: | 黄辉;渠波;吴海波;刘蓬勃;白敏 | 申请(专利权)人: | 黄辉;渠波;吴海波 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 116024 辽宁省大连市*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 光学 谐振腔 微粒 粒度 检测 传感器 | ||
1.一种基于光学谐振腔的微粒粒度检测传感器,其特征是:光学谐振腔采用由介质膜布拉格反射镜(DBR)构成的Fabry-Pérot腔;由于谐振腔的谐振效应使得腔内光强度得到大幅提高,增强了腔内颗粒对光的散射效应;同时,由于DBR的反射率对角度敏感,当入射角超过特定阈值时,DBR的反射率急剧降低,因此散射角度超过特定阈值的散射光可以从谐振腔内有效导出。
2.权利要求1所述传感器,由Fabry-Pérot腔、光学透镜和光电探测部分组成。
3.权利要求1所述的特定阈值,具有以下特征:当入射角小于特定阈值时,布拉格反射镜能有效反射光波;当入射角大于特定阈值时,布拉格反射镜对光波的反射率急剧下降,丧失反射镜功能。
4.权利要求1和3所述的布拉格反射镜,可以选择不同的薄膜材料组合,从而调节不同薄膜材料之间的折射率差异,实现对特定阈值的调节。
5.权利要求1所述的所述的光散射效应,具有前向散射或后向散射两种形式,相应的光学透镜和光电探测部分需要放置在Fabry-Pérot腔的后侧或前侧。
6.权利要求4所述的布拉格反射镜,是通过在衬底上交替生长不同折射率的介质薄膜而成,其中的薄膜材料优选Si/SiO2、TiO2/SiO2和GaAs/AlGaAs。
7.权利要求2所述的光电探测部分,可按两种方式实现:①采用电荷耦合元件阵列,对散射光的强分布直接成像;②采用光电探测器,需要转动或移动探测器的位置,从而获得散射光的空间光强分布。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于黄辉;渠波;吴海波,未经黄辉;渠波;吴海波许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310285299.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种钢铁样品碳含量检测设备
- 下一篇:一种限制信息访问的方法和装置