[发明专利]一种倒锥阵列三维细胞定位培养芯片及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201310284955.X 申请日: 2013-07-08
公开(公告)号: CN103333802A 公开(公告)日: 2013-10-02
发明(设计)人: 叶芳;郝艳鹏;魏晨;谢晋;蒋瑾;高洁 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: C12M3/00 分类号: C12M3/00
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 吕湘连
地址: 710072 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 阵列 三维 细胞 定位 培养 芯片 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种三维细胞定位培养芯片,材质为PDMS,其特征在于:所述芯片包含阵列分布的倒锥(1),相邻倒锥(1)之间分布有空腔(2),使得所述倒锥(1)阵列和空腔(2)阵列交错分布;各相邻空腔(2)之间有微沟槽(3)相连接,微沟槽(3)与空腔(2)底面齐平;空腔(2)最大内切圆直径满足:,其中,是待培养细胞(4)的平均直径;空腔(2)底面与锥尖高度差h满足:h≥h0,其中,h0是待培养细胞(4)的高度平均值;相邻两个空腔(2)间的距离l,即空腔(2)中心线之间的距离满足:当应用于细胞接触性连接研究时,;当应用于细胞非接触性连接研究时,,其中,l0是待培养细胞(4)突触长度的平均值;所述微沟槽(3)均匀分布,宽度b满足:0.5μm≤b≤10μm。

2.如权利要求1所述三维细胞定位培养芯片,其制备基于倒锥阵列硅模板及PDMS完成,所述硅倒锥阵列模板的制备,包括如下步骤:

步骤一:对硅片表面进行清洗,吹干;

步骤二:LPCVD沉积氮化硅,作为湿法刻蚀硅片的掩膜层;

步骤三:涂光刻胶,进行曝光,显影,将刻蚀窗口从掩膜版转移到光刻胶上;

步骤四:RIE刻蚀氮化硅掩膜,将刻蚀窗口转移到氮化硅掩膜层上;

步骤五:丙酮去除光刻胶;

步骤六:KOH溶液湿法刻蚀硅片,刻蚀出倒锥阵列结构;

步骤七:H3PO4去除氮化硅掩膜层,得到所述倒锥阵列硅模板,所述硅模板包含阵列分布的倒锥,倒锥底部方形区域最大内切圆直径满足:倒锥深度h满足:h≥h0,相邻两个倒锥间距离l满足:当应用于细胞接触性连接研究时,当应用于细胞非接触性连接研究时,倒锥有均匀分布的梁连接,梁宽度b满足:0.5μm≤b≤10μm;

基于所述倒锥阵列进行三维细胞定位培养PDMS芯片制备的方法,包括如下步骤:

步骤一:混合PDMS预聚体和交联剂,充分搅拌均匀后,放入真空干燥箱中脱气,直至混合过程中产生的气泡完全排除;

步骤二:将PDMS浇注在硅模板上,并静置;

步骤三:将浇注PDMS后的硅模板置于真空干燥箱中,使PDMS发生交联反应而固化;

步骤四:将冷却后的PDMS轻轻剥下,就得到了所述倒锥阵列PDMS的三维细胞定位培养芯片。

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