[发明专利]大口径空间光学系统外场波前像差检测方法有效
| 申请号: | 201310280415.4 | 申请日: | 2013-07-04 |
| 公开(公告)号: | CN103335824A | 公开(公告)日: | 2013-10-02 |
| 发明(设计)人: | 闫锋;张学军 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 南小平 |
| 地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 口径 空间 光学系统 外场 波前像差 检测 方法 | ||
1.大口径空间光学系统外场波前像差检测方法,其特征是,包括三个步骤:
步骤一:测量条件初始化,a)将四维调整架(1)和小口径平行光发生装置(2)放在被测光学系统(3)前;通过辅助设备令小口径平行光发生装置(2)指向被测光学系统(3)的视场,并锁死x、y方向转动装置;b)将被测光学系统(3)的光学参数、小口径平行光口径及测量所需的子孔径数目输入控制计算机(5);子孔径拼接后的面积需覆盖被测光学系统(3)单视场通光孔径的全部,相邻子孔径重叠面积由采样密度确定;c)根据初始参数,控制计算机(5)生成小口径平行光发生装置(2)的初始位置及运动轨迹;运动轨迹的走向由控制计算机(5)预先设定,但轨迹长度由被测光学系统(3)的通光口径及测量所需的子孔径数目确定;同时,控制计算机(5)还生成两个与采样密度相同维度的二维空矩阵,用以存储测量数据,每个矩阵中的元素与小口径平行光发生装置(2)运动轨迹中的驻留位置一一对应;d)控制计算机(5)控制小口径平行光发生装置(2)运动至测量初始位置;
步骤二:波前斜率测量,将小口径平行光发生装置(2)调整至开启状态;发出的平行光经被测光学系统(3),最终被会聚到图像传感器(4)上,此时图像传感器(4)上接受到的是点状光斑;控制计算机(5)控制图像传感器(4)记录该点状光斑,并将其存入缓存;再通过质心算法计算出该点状光斑质心位置的x、y坐标,并将其存储为偏离矩阵中与小口径平行光发生装置(2)的位置相对应的元素;完成该操作后,控制计算机(5)根据步骤一中生成的运动轨迹控制小口径平行光发生装置(2)移动至下一位置,进行同样的光斑记录、数据处理与存储操作;以此类推,小口径平行光发生装置(2)按照其运动轨迹遍历整个被测光学系统(3)被测视场的通光口径,并在每个驻留位置进行光斑记录、数据处理与存储操作;测量结束后,可以得到表征被测光学系统(3)出瞳波面x方向斜率与y方向斜率的两个偏离矩阵;
步骤三:波前像差拟合,根据步骤二中生成的偏离矩阵与被测光学系统(3)的焦距可以计算得到被测光学系统(3)出瞳波面x方向斜率矩阵与y方向斜率矩阵;以斜率矩阵为输入,采用成熟的波面拟合算法,拟合得到被测光学系统(3)的出瞳波面。
2.根据权利要求1所述的大口径空间光学系统外场波前像差检测方法,步骤三所述的拟合过程中去除结果中的倾斜分量。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310280415.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于建筑物装饰石材面板安装的连接件及施工方法
- 下一篇:体表化学灼伤急救制剂





