[发明专利]基于X射线线扫的元器件计数方法及其计数装置无效
申请号: | 201310277692.X | 申请日: | 2013-07-03 |
公开(公告)号: | CN103376270A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
发明(设计)人: | 吴元;黄茜 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G01N23/10 | 分类号: | G01N23/10 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 蔡茂略 |
地址: | 510641 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 射线 元器件 计数 方法 及其 装置 | ||
1.基于X射线线扫的元器件计数方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)将元器件料盘平放于匀速运转的传送带上,进入射线屏蔽室;
(2)料盘触发红外对射传感器,开始线阵CCD图像传感器的采集;
(3)射线发生器发射的X射线穿透料盘后由线阵CCD图像传感器接收;
(4)料盘触发红外对射传感器,停止线阵CCD图像传感器的采集;
(5)线阵CCD图像传感器将接收的信号转换为数字信号并通过线阵传感器控制盒传输到计算机,计算机将数字信号转换为X射线图像;
(6)对X射线图像进行分析,自动计算出元器件个数,并显示计数结果。
2.根据权利要求1所述的基于X射线线扫的元器件计数方法,其特征在于,所述步骤(5)中线阵CCD图像传感器将接收的信号转换为数字信号并通过线阵传感器控制盒传输到计算机,计算机将数字信号转换为X射线图像,具体包括以下步骤:
(5-1)线阵CCD图像传感器根据接收到的X射线,产生长度为S的一维数组,并不断将一维数组通过线阵传感器控制盒发送至计算机;其中,S为线阵CCD图像传感器的设计分辨率;
(5-2)计算机接收到N个一维数组后,将其合成为大小为N×S的二维X射线图像;其中N=F×t,F为线阵CCD图像传感器的扫描频率,t为从开始采集到停止采集的时间间隔。
3.根据权利要求1所述的基于X射线线扫的元器件计数方法,其特征在于,所述步骤(6)对X射线图像进行分析,自动计算出元器件个数,并显示计数结果,具体包括以下步骤:
(6-1)以阈值T对步骤(5-2)得到的X射线图像进行二值化操作,得出元器件的大致区域,其中阈值T由用户根据的特性进行设定;
(6-2)进行图像形态学的膨胀、腐蚀操作,得到元器件的准确区域;
(6-3)对每个独立的区域进行标记,分别为1,2,3,…,n,n为大于零的整数;
(6-4)计算每个独立区域的面积S,分别记为S1,S2,S3,…,Sn;
(6-5)对每个区域进行计数,如果round(S/A)=0或1,则计数加1,如果round(S/A)=2,则计数加2,依此类推,其中函数round(S/A)为进行四舍五入操作的函数,A为预先设定的单个元器件面积;
(6-6)以(6-5)的计数方法对区域1,2,3,…,n依次进行计数,并对计数结果进行累加;
(6-7)显示对区域1,2,3,…,n依次进行计数的结果。
4.实现权利要求1~3任一项所述的基于X射线线扫的元器件计数方法的计数装置,其特征在于:包括料盘传送带、射线屏蔽室、X射线发生器、线阵CCD图像传感器、红外对射传感器、控制计算机和线阵传感器控制盒;
所述料盘传送带上设有射线屏蔽室,所述射线屏蔽室的上部设有X射线发生器,所述射线屏蔽室的下部设有线阵CCD图像传感器,所述X射线发生器与线阵CCD图像传感器处于同一垂直面上;所述红外对射传感器放置于线阵CCD图像传感器上方,且与线阵传感器控制盒连接;所述X射线发生器通过电缆与控制计算机连接;所述线阵CCD图像传感器、线阵传感器控制盒和控制计算机通过电缆依次连接。
5.根据权利要求4所述的元器件计数装置,其特征在于:所述料盘传送带上放有料盘。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学,未经华南理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310277692.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种托辊密封装置
- 下一篇:腭式活动底板振动给料机