[发明专利]一种板级电路测试性模型自动生成方法

权利要求书

1.一种板级电路测试性模型自动生成方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：获取板级电路信息，包括各层电路板信息，各层电路板所含的故障模块的故障属性、测点模块的测试属性以及模块间的连接关系；

S2：对步骤S1中获取的各种板级电路信息设置XML标签，以XML文件格式保存，其中各层电路板中模块间的连接关系存储为邻接矩阵；

S3：对每个层次电路板模型的所有模块进行排序，排序方法包括以下步骤：

S3.1：为每个模块赋予排序参考值初始值为0；

S3.2：按故障模块存储顺序遍历所有故障模块，根据邻接矩阵，当连线从当前故障模块连接到其他故障模块时，如果其他故障模块的排序参考值与当前故障模块的排序参考值之差大于等于1，则不作任何操作，否则将其他故障模块的排序值加1；当连线从其他故障模块连接到当前故障模块，如果其他故障模块的排序参考值与当前故障模块的排序参考值之差小于等于1，则不作处理，否则其他故障模块的排序参考值减1；故障模块遍历结束后，测点模块的排序参考值等于连接它的第一个故障模块的排序参考值+1；

S3.3：按所有模块排序参考值从小到大对模块进行排序；

S4：根据步骤S3中得到的每个层次的排序结果依次确定各模块在每个层次布局中的位置坐标，生成每个层次的初始布局，初始布局生成方法为：

S4.1：模块序号x=0；

S4.2：初始化模块位置坐标，iCol=0，iRow=0，其中iCol为列序号，表示模块所在列；行序号iRow代表模块在列中的水平位置；

S4.3：令模块x的位置坐标Col_x=iCol，Row_x=iRow，其中Col_x表示模块x的列序号，Row_x表示模块x在列中的行序号；

S4.4：模块序号x=x+1；

S4.5：判断模块x是否等于该层模型中的模块总数N，如果等于，结束初始布局，如果小于，进入步骤S4.6；

S4.6：判断模块x与iCol列中的所有模块是否有连线，如果有，进入步骤S4.7，如果没有，进入步骤S4.8；

S4.7：令iCol=iCol+1，iRow=0，返回步骤S4.3；

S4.8：令iRow=iRow+1，iCol不变，返回步骤S4.3；

S5：根据步骤S4得到的初始布局，利用布局优化方法进行调整，使每列模块之间的交叉连线数减少至无法减少，得到板级电路测试性模型的最终布局，完成板级电路测试性模型的生成。

2.根据权利要求1所述的板级电路测试性模型自动生成方法，其特征在于，所述故障模块的故障属性包括模块名称、故障概率、功能故障率及对功能故障的传播、映射、阻断效果。

3.根据权利要求1所述的板级电路测试性模型自动生成方法，其特征在于，所述测点模块的测试属性包括测试名称、测试时间、测试成本、测试状态和可测的功能故障。

4.根据权利要求1所述的板级电路测试性模型自动生成方法，其特征在于，所述布局优化方法包括以下步骤：

S5.1：初始化列序号m=1；

S5.2：计算第m列与第m-1列的交叉连线数S，判断该交叉连线数S是否为0，如果为0，进入步骤S5.14；如果结果不为0，进入步骤S5.3；

S5.3：将第m列中的模块两两交换位置，计算交换后第m列与第m-1列间的交叉连线数S1，判断是否S1<S，如果结果为是，恢复交换前的状态，如果结果为否，维持交换后的状态S=S1；当S=0或所有模块均交换完毕，进入步骤S5.4；

S5.4：列序号m=m+1，记该层模型初始布局中列总数为M，判断是否m=M，如果是，优化结束，否则返回步骤S5.2。

5.根据权利要求1所述的板级电路测试性模型自动生成方法，其特征在于，还包括步骤：

S6：根据各层电路板的邻接矩阵生成依赖矩阵。