[发明专利]播种质量检测方法和装置有效

专利信息
申请号: 201310273682.9 申请日: 2013-07-01
公开(公告)号: CN103324959A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 雷明;马旭;万克林;万克家 申请(专利权)人: 智美达(江苏)数字技术有限公司
主分类号: G06K9/66 分类号: G06K9/66;G06K9/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 何平
地址: 224000 江苏省盐城市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 播种 质量 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种播种质量检测方法,所述方法包括:

通过对已标定类别的秧盘图像样本进行学习,确定分类器模型;

输入自动播种后的秧盘图像;

利用所述分类器模型对所述秧盘图像进行识别和分类。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过对已标定类别的秧盘图像样本进行学习,确定分类器模型的步骤,包括:

输入已标定类别的秧盘图像样本,所述类别分为种子分布均匀和种子分布不均匀;

提取各秧盘图像样本对应的N维特征向量xi,N>1,为整数;

根据秧盘图像样本集(xi,yi),采用循环迭代,利用顺序最小优化算法获得支持向量机分类器模型y=sgn(wTx+b)中的参数w和b,其中xi为N维特征向量,yi为类别标识,yi=1表示秧盘图像样本属于种子分布均匀类别,yi=-1表示秧盘图像样本属于种子分布不均匀类别,w为N×1参数矩阵,sgn函数为符号函数。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述提取各秧盘图像样本对应的N维特征向量xi的步骤,包括:

将输入的各秧盘图像样本转为对应的各样本灰度图,所述灰度图中像素点(m,n)的像素值为I(m,n),其中m为水平方向坐标,n为垂直方向坐标,所述灰度图的灰度值的级数为Q;

由下列公式确定所述灰度图中多个不同θ角度值对应的特征矩阵c(i,j),c(i,j)为Q×Q阶矩阵:

c(i,j)=p(I(m1,n1)=i,I(m2,n2)=j),其中像素点(m1,n1)和像素点(m2,n2)为循环遍历灰度图中所有像素点沿着θ方向,且差距为d的两像素点,p(I(m1,n1)=i,I(m2,n2)=j)表示像素值I(m1,n1)为i且像素值I(m2,n2)为j的概率;

确定各θ角度值对应的特征矩阵的能量E、相关系数λ和熵S:

E=ΣiΣjc(i,j)2,]]>

λ=ΣiΣjijc(i,j)-μ1μ2σ12σ22,]]>其中μ1=ΣiiΣjc(i,j),]]>μ2=ΣiΣjjc(i,j),]]>

σ12=Σi(i-μ1)2Σjc(i,j),σ22=Σi(i-μ2)2Σjc(i,j),]]>

S=-ΣiΣjc(i,j)logc(i,j);]]>

将各θ角度值对应的特征矩阵的能量E、相关系数λ和熵S组合为N维特征向量。

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