[发明专利]LED测试装置有效

专利信息
申请号: 201310269505.3 申请日: 2013-06-28
公开(公告)号: CN103344412A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 刘辉武;谢旺;何学志;黄斐铨;徐文杰 申请(专利权)人: 广州视睿电子科技有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01R31/26
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 王茹;胡杰
地址: 510663 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: led 测试 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及LED测试领域,特别是涉及一种LED测试装置。

背景技术

由于LED(Light-Emitting Diode,发光二极管)具有功率效率高、光输出/尺寸比好、寿命长等特点,使得LED的应用领域越来越广泛。

例如,在红外触摸屏领域,LED作为其用量最大的元器件,至关重要。但是,一旦出现某个或者多个LED不良,将导致红外触摸屏出现断线、跳笔等现象,以至于红外触摸屏不能正常工作。

因此,需要严格控制LED性能指标,一般地,评价LED性能的参数主要有半角值、信号强度和角度关系等等,但现有的关于LED的测试多采用光学测试仪,测试步骤繁琐、测试周期长、消耗大量的人力物力成本。

发明内容

本发明的目的在于提供一种LED测试装置,可简化测试程序、缩短测试周期、节约人力物力成本。

本发明的目的通过如下技术方案实现:

一种LED测试装置,包括第一横杆、第一滑块、信号处理电路、控制电路、第一灯管插座、与所述第一横杆延伸方向相距一设定距离上的第二灯管插座,所述第一滑块设置在所述第一横杆上且可沿所述第一横杆延伸方向滑动,所述第一灯管插座设置在所述第一滑块上且与所述信号处理电路连接,所述第二灯管插座与所述控制电路连接;

所述信号处理电路用于获取插入到第一灯管插座中的LED接收管接收到的信号强度;

所述控制电路用于在测试中控制插入到所述第二灯管插座中的LED发射管的信号发射。

依据本发明的方案,由于第一横杆上设置有可沿所述第一横杆延伸方向滑动的第一滑块,且该第一滑块上设置有第一灯管插座,在进行测试时,该第一灯管插座中可以插入LED接收管,而该LED接收管接收到的信号强度可以直接由信号处理电路获取,方便快捷,第二灯管插座插入LED发射管后,由控制电路导通LED发射管,通过改变第一灯管插座、第二灯管插座的位置,可以很方便的获得LED接收管或者LED发射管在不同位置时的LED接收管接收到信号强度,便于获得LED的半角值、信号强度和角度关系等性能参数,简单易行,缩短了测试周期,节约了人力物力成本,同时,可以便于更换不同的LED接收管或者LED发射管进行测试。

一种LED测试装置,包括第一横杆、信号处理电路、控制电路、与所述第一横杆延伸方向相距一设定距离上的第二灯管插座、多个设置在所述第一横杆上且沿所述第一横杆延伸方向排布的第一灯管插座;

各所述第一灯管插座分别与所述信号处理电路连接,所述第二灯管插座与所述控制电路连接;

所述信号处理电路用于获取插入到第一灯管插座中的LED接收管接收到的信号强度;

所述控制电路用于控制插入到所述第二灯管插座中的LED发射管的信号发射。

依据本发明的方案,由于第一横杆上设置有多个沿所述第一横杆延伸方向排布的第一灯管插座,在进行测试时,插入到第一灯管插座中的LED接收管接收到的信号强度可以直接由信号处理电路获取,方便快捷,第二灯管插座插入LED发射管后,由控制电路导通LED发射管,通过将LED接收管插入到不同的第一灯管插座中、改变第二灯管插座的位置,可以很方便的获得LED接收管或者LED发射管在不同位置时的LED接收管接收到信号强度,便于获得LED的半角值、信号强度和角度关系等性能参数,简单易行,缩短了测试周期,节约了人力物力成本,同时,可以便于更换不同的LED接收管或者LED发射管进行测试。

附图说明

图1为本发明的LED测试装置第一实施例的结构示意图;

图2为本发明的LED测试装置第二实施例的结构示意图;

图3为采用图2中所示LED测试装置测试LED发射管的半角值的流程示意图;

图4为采用图2中所示LED测试装置测试LED发射管的光强与角度的关系的流程示意图;

图5采用图2中所示LED测试装置测试LED接收管的光强与角度的关系的流程示意图;

图6采用图2中所示LED测试装置测试LED发射管发射光强与传播距离之间的关系的流程示意图;

图7为在测试过程中各结构的位置关系示意图;

图8为本发明的LED测试装置第三实施例的结构示意图;

图9为本发明的LED测试装置第四实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面结合实施例及附图对本发明的作进一步阐述,但本发明的实现方式不限于此。

参见图1所述,为本发明的LED测试装置第一实施例的结构示意图。

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