[发明专利]一种圆珠笔笔头顶珠力及轴向间隙集成测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及检测设备，尤其是一种圆珠笔笔头测量方法。

背景技术

目前，我国已成名副其实的世界制笔业生产的出口大国。据统计，2009年在产量方面，我国制笔行业总产量为380亿支，在各类笔中圆珠笔的产量最大，年产量为136亿支,其中70％供出口，出口地遍及世界各国。笔头检测技术比较落后，笔头顶珠力测量、轴向间隙测量目前还处于半手工状态，而且笔头顶珠力与轴向间隙分别测量，2套装置，测量精度与效率都较低。

发明内容

为了克服已有圆珠笔笔头测量技术的工作效率较低、测量精度较低的不足，本发明提供一种提升工作效率、提高测量精度的圆珠笔笔头顶珠力及轴向间隙集成测量方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种圆珠笔笔头顶珠力及轴向间隙集成测量方法，实现所述测量方法的测量装置包括机座、测量顶针、笔头夹具和千分表，所述测量顶针呈竖向布置，所述测量顶针与力传感器连接，所述力传感器与用于带动测量顶针竖向上下运动的竖向驱动机构连接，所述竖向驱动机构安装在机座上，所述笔头夹具位于所述测量顶针的正下方，所述笔头夹具上开有用以放置待测量笔头的检测孔，所述测量顶针的中心线与所述检测孔的中心位于同一垂线上，所述笔头夹具与所述机座连接，所述千分表位于所述笔头夹具的下方，所述千分表的测量头位于所述检测孔的下方，且所述千分表的测量头上端与待检测笔头的球珠接触，所述千分表安装在千分表固定架上，所述千分表固定架安装在所述机座上，所述集成测量方法包括以下步骤：

1）被测笔头安装在笔头夹具上，使笔头球珠与数显千分表的测量头刚好接触；

2）调节使所述被测笔头与测量顶针对中；

3）控制竖向驱动机构向下运动，当测量顶针接触到笔头球珠时，自动采集力传感器和千分表（位移传感器）测量的数据信息，动态读取并显示当前顶珠力和位移的数值，当笔头的球珠顶出后自动计算显示最大顶出力和对应的轴向间隙。

进一步，所述步骤3）中，根据力传感器的信号得到笔头顶珠力曲线以及根据千分表数据（位移传感器的信号）得到对应不同顶珠力时的轴向间隙，根据笔头顶珠力曲线得到最大顶珠力和对应轴向间隙。

更进一步，所述集成测量装置还包括位置微调组件，所述位置微调组件包括夹具安装平台、X轴向燕尾槽底板和Y轴向燕尾槽底板，所述夹具安装平台的下方依次设置所述X轴向燕尾槽底板和Y轴向燕尾槽底板，所述X轴向燕尾槽底板和Y轴向燕尾槽底板上开有供所述千分表的测量头穿过的通孔；其中，

所述笔头夹具安装在所述夹具安装平台上，所述夹具安装平台的底面与X轴向燕尾导轨固定连接，X轴向拉簧一端固定在夹具安装平台上，所述X轴向拉簧另一端固定在X轴向燕尾槽底板上，所述X轴向燕尾导轨与所述X轴向燕尾槽底板可滑动地连接；

Y轴向拉簧一端固定在X轴向燕尾槽底板上，所述Y轴向拉簧另一端固定在Y轴向燕尾槽底板上，所述Y轴向燕尾导轨与X轴向燕尾槽底板的底面固定连接，所述Y轴向燕尾导轨与所述Y轴向燕尾槽底板可滑动地连接，所述Y轴向燕尾槽底板固定在机座上；

X轴向螺旋测微器安装座固定在X轴向燕尾槽底板上，Y轴向螺旋测微器安装座固定在Y轴向燕尾槽底板上，所述X轴向螺旋测微器的测量头接触X轴向燕尾导轨，所述Y轴向螺旋测微器测量头接触Y轴向燕尾导轨；

所述步骤2）中，通过调节X轴向螺旋测微器和Y轴向螺旋测微器，使被测笔头与测量顶针对中。

本发明的有益效果主要表现在：提升工作效率、提高测量精度。

附图说明

图1是圆珠笔笔头集成测量装置的示意图。

图2是笔头夹具、位置微调装置的整体示意图。

图3是位置微调装置的分解示意图。

图4是位置微调装置、千分表的示意图。

图5是检测结果示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步描述。