[发明专利]输入装置检测方法有效
申请号: | 201310263292.3 | 申请日: | 2013-06-27 |
公开(公告)号: | CN104252259B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 吴俊谋 | 申请(专利权)人: | 群嘉精密股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 余刚,李静 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 输入 装置 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种输入装置检测方法,特别是关于一种适用于具有多数条感应线路的输入装置检测方法。
背景技术
输入装置例如为触控面板,人们可通过输入装置以与电子装置互动,其中触控面板随着科技的进步,已大量运用在电子装置上,例如智能型手机、平板电脑、ATM提款机或电脑绘图板等,因此人们可轻易地触碰触控面板而产生输入信号给电子装置,藉此提升操作电子装置的方便性。
然而,为了提升触控面板此类输入装置的触碰感应能力,触控面板内的感应线路紧密地分布在一定面积的透明导电薄膜上,如铟锡氧化薄膜(indium tin oxide,ITO),或是感应线路紧密地分布在金属图案层基板上,其中感应线路交错且紧密分布,所以输入装置的感应线路有可能产生短路缺陷,藉此降低触控面板此类输入装置使用的方便性。
其中,常用的检测方法例如以逐条检测方式来检测,例如检测两相邻两条感测线路之间是否有短路缺陷,或是一条感测线路与多条感测线路之间是否有短路缺陷,虽然此检测方法可准确地检测出短路缺陷,然此检测方式需耗费许多时间,才能检测出短路缺陷,藉此降低检测输入装置的效能。
发明内容
本发明在于提供一种输入装置检测方法,以快速检测出一具有多条第一感应线路与多条第二感应线路的输入装置的短路缺陷,藉此提升检测输入装置的品质的效率。
本发明提出一种输入装置检测方法,包括提供一具有多条第一感应线路与多条第二感应线路的输入装置;将这些第一感应线路耦接一电源的一第一极,这些第二感应线路耦接电源的一第二极,以判断这些第一感应线路与这些第二感应线路是否具有短路缺陷;将这些奇数条第一感应线路耦接电源的第一极,这些偶数条第一感应线路耦接电源的第二极,以判断这些奇数条第一感应线路与这些偶数条第一感应线路是否具有短路缺陷;将这些奇数条第二感应线路耦接电源的第一极,这些偶数条第二感应线路耦接电源的第二极,以判断这些奇数条第二感应线路与这些偶数条第二感应线路是否具有短路缺陷;以及将一接地线路耦接电源的第一极,这些第一感应线路耦接电源的第二极,以判断接地线路与这些第一感应线路是否具有短路缺陷,或是将接地线路耦接电源的第一极与这些第二感应线路耦接电源的第二极,以判断接地线路与这些第二感应线路是否具有短路缺陷。
本发明提出一种输入装置检测方法,包括提供一具有多条第一感应线路与多条第二感应线路的输入装置;将这些奇数条第一感应线路耦接一电源的一第一极,这些偶数条第一感应线路、这些第二感应线路与接地线路耦接电源的一第二极,以判断这些奇数条第一感应线路的短路缺陷;将这些偶数条第一感应线路耦接电源的第一极,这些奇数条第一感应线路、这些第二感应线路与接地线路耦接电源的第二极,以判断这些偶数条第一感应线路的短路缺陷;将这些奇数条第二感应线路耦接电源的第一极,这些偶数条第二感应线路、这些第一感应线路与接地线路耦接电源的第二极,以判断这些奇数条第二感应线路的短路缺陷;以及将这些偶数条第二感应线路耦接电源的第一极,这些奇数条第二感应线路、这些第一感应线路与接地线路耦接电源的第二极,以判断这些偶数条第二感应线路的短路缺陷。
本发明的具体手段为利用一种输入装置检测方法,判断第一及第二感应线路是否具有短路缺陷,通过检测耦接阳极的第一感应线路与交错的耦接阴极的第二感应线路之间的电位差变化来实现。判断第一感应线路是否具有短路缺陷,通过检测耦接阳极的奇数条第一感应线路与耦接阴极的偶数条第一感应线路之间的电位差变化来实现。判断第二感应线路是否具有短路缺陷,通过检测耦接阳极的奇数条第二感应线路与耦接阴极的偶数条第二感应线路之间的电位差变化来实现。判断接地线路与第一感应线路(第二感应线路)是否具有短路缺陷,通过检测耦接阳极的接地线路与耦接阴极的第一感应线路(或第二感应线路)之间的电位差变化来实现,藉此提升检测输入装置的效能。
以上的概述与接下来的实施例,均是为了进一步说明本发明的技术手段与达成效果,然而所叙述的实施例与图式仅提供参考说明用,并非用来对本发明加以限制。
附图说明
图1A-1及图1A-2为本发明一实施例的输入装置检测方法流程图。
图1B为根据图1A-1及图1A-2的本发明一实施例的输入装置检测方法流程的另一电路示意图。
图1C为根据图1A-1及图1A-2的本发明实施例的输入装置检测方法流程的另一电路示意图。
图1D为根据图1A-1及图1A-2的本发明实施例的输入装置检测方法流程的另一电路示意图。
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