[发明专利]有机薄膜光增益性能测试装置

权利要求书

1.一种有机薄膜光增益性能测试装置，其特征在于，该测试装置包括在同一条光路上顺序设置的脉冲激光器（1）、光路开关（2）、线偏振片（3）、二分之一波片（4）、第一反光镜（5）、全波衰减片（6）、通带滤波片（7）、第二反光镜（8）、变焦扩束器（9）、可调光圈（10）、柱面凸透镜（11a）、可调狭缝（12）、球面透镜(11b)、9:1分束器（13）、样品的光照条形区域（14）、第三反光镜（15）；其中，光路开关（2）的控制信号来自控制计算机（23），控制计算机（23）由显微镜照相机（16）采集第三反光镜（15）的信号，由带有光纤探头（19）的光栅光谱仪和CCD照相机（20）通过高通滤波片（17）和全波滤波片（18）采集样品的光照条形区域（14）的信号，样品位于柱面凸透镜（11a）和球面透镜(11b)的公共焦点处；由光功率计（22）通过光功率计探头（21）采集9:1分束器（13）的信号。

2.如权利要求1所述的有机薄膜光增益性能测试装置，其特征在于所述的柱面凸透镜（11a）焦距为30cm, 球面透镜(11b)焦距为15cm。

3.如权利要求1所述的有机薄膜光增益性能测试装置，其特征在于，入射到样品上的光强度是由选择全波衰减片（6）的衰减倍数控制的，全波衰减片(6)是三组镶在可绕中心轴旋转的支架上、或镶在可沿X轴平移的支架上的不同衰减倍数的全波衰减片组合而成。

4.如权利要求1所述的有机薄膜光增益性能测试装置，其特征在于，入射光路上设有与所选入射光波长相匹配的通带滤波片（7），以确保入射光为单一波长；为避免泵浦光信号进入样品出光端的探测器或光谱仪，在光谱仪探头(19)前设计有高通滤波片(17)。

5.如权利要求1所述的有机薄膜光增益性能测试装置，其特征在于，所述的全波滤波片（18）有三组，放置角度倾斜，使在光路上各个反射面上多次反射的光束偏离主光路，避免多个光斑照射在样品上。

6.如权利要求1所述的有机薄膜光增益性能测试装置，其特征在于，所述的柱面凸透镜（11a）、球面透镜(11b)、显微镜照相机（16）固定在X, Y, Z三维可调光具座上。

7.如权利要求1所述的有机薄膜光增益性能测试装置，其特征在于，样品、光谱仪的光纤探头（ 19 ）要在X, Y, Z三维可调，还要在水平面上可旋转。

8.如权利要求1所述的有机薄膜光增益性能测试装置, 其特征在于所述的线偏振片（3）、二分之一波片（4）、柱面凸透镜（11a）、可调狭缝（12）、球面透镜(11b)均可在X方向平移, 并绕Y轴旋转, 从而可以根据测量需要移入和移出主光路。