[发明专利]一种测量电容电路和系统在审

专利信息
申请号: 201310261675.7 申请日: 2013-06-27
公开(公告)号: CN104251938A 公开(公告)日: 2014-12-31
发明(设计)人: 游成林;蓝菊芳 申请(专利权)人: 深圳市同洲电子股份有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518057 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 电容 电路 系统
【权利要求书】:

1.一种电容测量电路,其特征在于,包括:

比较器,所述比较器的供电端与电源连接,所述比较器的接地端接地;

第一电阻,所述第一电阻的第一端接地,所述第一电阻的第二端连接到比较器的同相输入端;

第二电阻,所述第二电阻的第一端连接到所述比较器的同相输入端,所述第二电阻的第二端与所述电源连接;

第三电阻,所述第三电阻的第一端与所述比较器的输出端连接,所述第三电阻的第二端连接到所述比较器的同相输入端;以及

第四电阻,所述第四电阻的第一端作为待测电容的第一输入端,所述第四电阻的第二端连接到所述比较器的输出端。

2.如权利要求1所述的电容测量电路,其特征在于,所述第五电阻的第一端作为待测电容的第一输入端,所述第五电阻的第二端连接到所述比较器的输出端。

3.如权利要求2所述的电容测量电路,其特征在于,所述第六电阻的第一端作为待测电容的第一输入端,所述第六电阻的第二端连接到所述比较器的输出端。

4. 一种电容测量系统,包括:

电容测量单元,用于对待测电容进行测量以输出方波信号;

微处理单元,与所述电容测量单元连接,用于接收所述方波信号,并对所述方波信号进行处理,以输出处理后的信号;

显示单元,与所述微处理单元连接,用于显示所述处理后的信号。

5. 如权利要求4所述的电容测量系统,其特征在于所述电容测量系统还包括:

扩展接口单元,与所述微处理单元连接,用于将所述处理后的信号直接通过接口直接输出;

人机交互单元,与所述微处理单元连接,用于与所述微处理单元通信,选择将所述处理后的信号输出。

6. 如权利要求5所述的电容测量系统,其特征在于,所述接口包括串口、并口、USB、网口。

7. 如权利要求4所述的电容测量系统,其特征在于所述电容测量单元包括:

比较器,所述比较器的供电端与电源连接,所述比较器的接地端接地;

第一电阻,所述第一电阻的第一端接地,所述第一电阻的第二端连接到比较器的同相输入端;

第二电阻,所述第二电阻的第一端连接到所述比较器的同相输入端,所述第二电阻的第二端与所述电源连接;

第三电阻,所述第三电阻的第一端与所述比较器的输出端连接,所述第三电阻的第二端连接到所述比较器的同相输入端;以及

第四电阻,所述第四电阻的第一端作为待测电容的第一输入端,所述第四电阻的第二端连接到所述比较器的输出端。

8. 如权利要求7所述的电容测量系统,其特征在于所述电容测量单元包括第五电阻,所述第五电阻的第一端作为待测电容的第一输入端,所述第五电阻的第二端连接到所述比较器的输出端。

9. 如权利要求8所述的电容测量系统,其特征在于所述电容测量单元包括第六电阻,所述第六电阻的第一端作为待测电容的第一输入端,所述第六电阻的第二端连接到所述比较器的输出端。

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