[发明专利]存储器、通过测试机台对存储器进行测试的方法

权利要求书

1.一种存储器，包括：适于检测存储器的性能参数的检测节点和适于接收测试数据的数据节点，其特征在于，还包括：

复用引脚，适于向所述数据节点提供测试数据或者通过所述检测节点检测存储器的性能参数；

识别单元，连接所述复用引脚，适于在所述复用引脚提供测试数据且所述测试数据包含预设控制数据时输出第一切换信号，否则输出第二切换信号；

切换单元，连接所述识别单元，适于在所述第一切换信号的控制下将所述复用引脚与所述检测节点连接；所述切换单元还适于在所述第二切换信号的控制下将所述复用引脚与所述数据节点连接。

2.如权利要求1所述的存储器，其特征在于，所述切换单元为开关元件，所述开关元件包括：适于接收所述第一切换信号或所述第二切换信号的控制端，与所述复用引脚连接的输入端，与所述检测节点连接的第一输出端，以及与所述数据节点连接的第二输出端。

3.如权利要求1所述的存储器，其特征在于，还包括：适于提供电源电压的电源引脚、适于接收时钟信号的时钟引脚和接地引脚。

4.如权利要求3所述的存储器，其特征在于，还包括：连接所述时钟引脚、识别单元和切换单元的计数单元，所述计数单元适于在所述识别单元输出第一切换信号时触发对所述时钟引脚提供的时钟信号进行计数，当计数值等于预设阈值时控制所述识别单元输出第二切换信号。

5.如权利要求1所述的存储器，其特征在于，所述数据节点还适于提供测试结果，所述复用引脚还适于接收所述数据节点发送的测试结果。

6.一种通过测试机台对存储器进行测试的方法，所述测试机台包括若干测试通道，所述存储器包括复用引脚、适于检测存储器的性能参数的检测节点和适于接收测试数据的数据节点，其特征在于，包括：

通过与所述存储器的复用引脚连接的测试通道向所述复用引脚发送测试数据；

若所述复用引脚接收的测试数据包含预设控制数据，则将所述复用引脚与所述检测节点连接以通过所述检测节点获取存储器的性能参数；否则将所述复用引脚与所述数据节点连接。

7.如权利要求6所述的通过测试机台对存储器进行测试的方法，其特征在于，所述存储器还包括电源引脚和时钟引脚，所述方法还包括：

通过与所述存储器的电源引脚连接的测试通道提供电源电压，通过与所述存储器的时钟引脚连接的测试通道提供时钟信号。

8.如权利要求7所述的通过测试机台对存储器进行测试的方法，其特征在于，所述存储器还包括计数单元，所述方法还包括：

在所述复用引脚与所述检测节点连接时触发所述计数单元对所述时钟引脚提供的时钟信号开始计数，当计数值等于预设阈值时，将所述复用引脚与所述数据节点连接。

9.如权利要求6～8任一项所述的通过测试机台对存储器进行测试的方法，其特征在于，所述存储器的数据节点还适于提供测试结果，所述复用引脚还适于接收所述测试结果，所述方法还包括：

在执行完测试后，通过与所述存储器的复用引脚连接的测试通道接收所述存储器的复用引脚发送的测试结果。