[发明专利]PZT调制系数测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种PZT调制系数测试装置，包括：

一窄线宽半导体激光器；

一光隔离器，其输入端与窄线宽半导体激光器的输出端连接；

一迈克尔逊干涉仪，其第一输入端与光隔离器的输出端连接；

一光电探测器，其输入端与迈克尔逊干涉仪的输出端连接；

一数据采集卡，其第一输入端与光电探测器的输出端连接；

一数据处理系统，其输入端与数据采集卡的输出端连接；

一载波电路，其第一输出端与迈克尔逊干涉仪的第二输入端连接，第二输出端与数据采集卡的第二输入端连接。

2.根据权利要求1所述的PZT调制系数测试装置，其中窄线宽半导体激光器是窄线宽光纤激光器。

3.根据权利要求1所述的PZT调制系数测试装置，其中迈克尔逊干涉仪是带偏振控制的马赫曾德干涉仪。

4.根据权利要求1所述的PZT调制系数测试装置，其中数据处理系统是PC、DSP或FPGA数据处理系统。

5.根据权利要求1所述的PZT调制系数测试装置，其中载波电路是信号发生器。

6.一种PZT调制系数测试方法，其是采用如权利要求1所述的测试装置，包括如下步骤：

步骤1：调节窄线宽半导体激光器a的输出功率；

步骤2：用载波电路g对迈克尔逊干涉仪c加PZT调制信号，调节载波电路的输出电压，使得PZT调制信号的幅度为一定值；

步骤3：对数据采集卡采集到的数据经过数据处理系统f进行处理，完成测试。

7.根据权利要求6所述的PZT调制系数测试方法，其中数据采集卡采集到的信号表示为其中：V为干涉信号，C为PZT调制系数，Ccosω₀t为载波信号。

8.根据权利要求6所述的PZT调制系数测试方法，其中数据处理系统进行处理包括如下步骤：

步骤3.1：对数据采集卡采集到的载波电路信号Ccosω₀t进行归一化和三倍频，分别得到归一化的基频信号cosω₀t和归一化的三倍频信号cos3ω₀t；

步骤3.2：将归一化的基频信号cosω₀t和归一化的三倍频信号cos3ω₀t与干涉信号V进行混频运算，分别得到V*cosω₀t和V*cos3ω₀t；

步骤3.3：对混频后的信号分别进行低通滤波运算，低通滤波的截止频率低于载波信号的频率ω₀，高于信号的频率，分别得到和

步骤3.4：对低通滤波后的信号做相除运算，得到-J₁(C)/J₃(C)；

步骤3.5：对于一取值范围内的C值，-J₁(C)/J₃(C)随C的单调递增而递增，据此计算PZT调制系数C。

9.根据权利要求8所述的PZT调制系数测试方法，其中载波电路信号Ccosω₀t中的载波信号频率ω₀大于或等于信号的最大频率，通常取为信号最大频率的2-4倍。