[发明专利]测量超声波的声吸收或衰减

权利要求书

1.一种用于测量超声波的声吸收的方法，所述方法包括：

用换能器来发射(30)第一声束；

响应于所述第一声束的所述发射来接收(32)表示处于参考位置的组织的参考信息；

用所述换能器来发射(34)在第二中心频率处的第二声束；

追踪(36)由所述第二声束的所述发射所引起的从所述参考位置起的第二位移；

用所述换能器来发射(32)在第三中心频率处的第三声束，所述第三中心频率不同于所述第二中心频率；

追踪(36)由所述第三声束的所述发射所引起的从所述参考位置起的第三位移；

根据所述第二和第三位移来计算(38)所述组织的声吸收；以及

显示(40)所述声吸收。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，接收(32)所述参考信息包括采集表示所述组织的B型数据。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，发射(32)所述第二和第三声束各包括发射具有比所述第一波束更大功率的声辐射力。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，发射(32)所述第二和第三声束包括用基本上相同的持续时间来发射，所述持续时间为至少50微秒。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，追踪(36)所述第二和第三位移各包括在不同于所述第一和第二中心频率的追踪中心频率处重复地发射，并且响应于在所述追踪中心频率处的所述发射重复地接收追踪信息，以及根据来自所述追踪信息的时间计算位移，所述第二和第三位移各包括根据响应于所述第二和第三声束的时间的所述位移的最大值。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，追踪(36)所述第二和第三位移包括将所述第二和第三位移标识为分别响应于所述第二和第三声束的最大轴向位移。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，计算(38)所述声吸收包括计算(38)衰减。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，计算(38)所述声吸收包括根据所述第二和第三频率之间的差来计算(38)所述第二和第三位移以及所述第二和第三位移的导数。

9.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括针对沿着扫描线的其他范围重复所述第二和第三位移的所述追踪(36)，并且其中，计算(38)包括根据针对其他范围的所述第二和第三位移来计算(38)。

10.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

用所述换能器来发射(32)在第四中心频率处的第四声束，所述第四中心频率不同于所述第二和第三中心频率；并且

追踪(36)由所述第四声束的所述发射所引起的从所述参考位置起的第四位移；

其中，计算(38)包括根据所述第四位移来计算(38)。

11.根据权利要求1所述的方法，其中，显示(40)包括显示表示所述声吸收的文本或图形。

12.根据权利要求1所述的方法，其中，所述发射(30)、接收(32)以及追踪(36)行为被针对多个扫描线上的多个深度来执行，其中计算(38)包括针对所述多个扫描线上的所述深度中的每一个来计算(38)所述声吸收，并且其中显示(40)包括显示(40)表示至少所述声吸收的二维分布的图像。

13.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

根据所述声吸收来适配(42)发射频率、线间隔、F数、脉冲重复频率、线采样计数、声能振幅、声能脉冲长度或其组合。

14.在一种具有表示指令的存储在其中的数据的非暂时性计算机可读存储介质(22)，所述指令可由可编程处理器(18)执行以用于测量超声波的声衰减，所述存储介质(22)包括指令以用于：

用响应于在不同频率处的应力的超声波来检测(28)组织的位移；并且

根据对在所述同频率处的所述应力作出响应的所述位移来计算(38)声衰减。

15.根据权利要求14所述的非暂时性计算机可读存储介质(22)，其中，检测(28)包括检测所述组织在所述不同频率的第一频率处响应于声辐射力的所述位移的第一个并且检测(28)所述组织在所述不同频率的第二频率处响应于声辐射力的所述位移的第二个，所述第二频率不同于所述第一频率，并且其中，计算(38)包括根据所述第一和第二位移来计算(38)所述声衰减。