[发明专利]用于过程设备的自诊断过程控制环路

权利要求书

1.一种用于诊断包括多个过程控制环路设备的过程控制环路的方法，其中所述过程控制环路根据适应性过程环路参数来控制，所述适应性过程环路参数根据所述过程控制环路的每个参数的适应模型计算，所述方法包括：

评估所述过程控制环路的性能；

评估所述过程控制环路被的过程控制环路设备的状态；

评估所述过程控制环路的所述适应模型的品质；

评估所述过程控制环路的稳定性；

根据所述每个评估，产生诊断指数；以及

根据一个或多个所述诊断指数，评估所述过程控制环路的状态。

2.如权利要求1所述的方法，其中“根据所述每个评估，产生诊断指数”的步骤包括根据对所述过程控制环路的性能的评估，产生可变性指数。

3.如权利要求2所述的方法，其中“根据对所述过程控制环路的性能的评估，产生可变性指数”的步骤包括计算所述可变性指数为：

VI=100(1-Slq+sStot+s)%]]>

其中：

Slq=最小标准差，

Stot=实际测得标准差，

s=灵敏度因数。

4.如权利要求1所述的方法，其中“根据所述每个评估，产生诊断指数”的步骤包括根据对所述过程控制环路的性能的评估，产生最小标准差。

5.如权利要求4所述的方法，其中“根据对所述过程控制环路的性能的评估，产生最小标准差”的步骤包括计算最小标准差为：

Slq=Scap2-[ScapStot]2]]>

其中：

Scap=估计性能标准差。

6.如权利要求1所述的方法，其中“根据所述每个评估，产生诊断指数”的步骤包括根据对所述过程控制环路内的过程控制环路设备的状态的评估，产生所述过程控制环路设备的死区。

7.如权利要求6所述的方法，其中“根据对所述过程控制环路内的过程控制环路设备的状态的评估，产生所述过程控制环路设备的死区”的步骤包括计算过程控制环路设备的死区为：

b=avg(maxΔ_i)

如果

|ΔOUT(t-1)*ΔBKCAL_IN(t)|>0

其中：

Δ_i(t)=|OUT(t-i)-BKCAL_IN(t)|,

ΔOUT(t-1)=OUT(t-i)-OUT(t-i-1),

ΔBKCAL_IN(t)=BKCAL_IN(t)-BKCAL_IN(t-1),

OUT(t)=传输到所述过程控制环路设备的过程控制信号，

BKCAL_IN(t)=来自过程控制环路设备的反算信号，

i=来自过程控制环路设备的反算信号延迟。