[发明专利]一种高响应度的AlGaN基量子阱红外探测器及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201310251280.9 申请日: 2013-06-24
公开(公告)号: CN103346197A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 张骏;鄢伟一;田武;吴峰;戴江南;陈长清 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: H01L31/101 分类号: H01L31/101;H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 江西省专利事务所 36100 代理人: 胡里程
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 响应 algan 量子 红外探测器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种高响应度的AlGaN基量子阱红外探测器,其特征在于:该探测器结构包括蓝宝石衬底;在蓝宝石衬底上依次生长的低温AlN成核层、高温AlN缓冲层、本征AlGaN层、n型AlGaN下接触层、AlGaN/GaN多量子阱层以及n型AlGaN上接触层;n型AlGaN上接触层之上的二维金属光栅层。

2.根据权利要求1所述的一种高响应度的AlGaN基量子阱红外探测器制备方法,其特征在于:AlGaN/GaN多量子阱结构的Al组分为30%~40%,GaN势阱厚度为2~3nm,AlGaN势垒厚度为6~8nm,量子阱个数为20~40。

3.根据权利要求1所述的高响应度的AlGaN基量子阱红外探测器,其特征在于:二维金属光栅为圆柱形空气孔阵列,圆柱孔直径为1~2μm。

4.根据权利要求1所述的高响应度的AlGaN基量子阱红外探测器,其特征在于:二维金属光栅为方形空气孔阵列,孔边长为1~3μm。

5.根据权利要求1所述的高响应度的AlGaN基量子阱红外探测器,其特征在于:二维金属光栅为正方形排列,阵列周期为2~3μm。

6.根据权利要求1所述的高响应度的AlGaN基量子阱红外探测器,其特征在于:二维金属光栅为六角形排列,阵列周期为3~4μm。

7.根据权利要求1、3、4、5或6所述的高响应度的AlGaN基量子阱红外探测器,其特征在于:二维金属光栅,材料为Au或者Ag,厚度为100nm~150nm。

8.一种高响应度的AlGaN基量子阱红外探测器制备方法,其步骤为:(1)利用MOCVD在蓝宝石衬底上依次外延生长低温AlN成核层、高温AlN缓冲层、本征AlGaN层、硅掺杂n型AlGaN下接触层、AlGaN/GaN多量子阱层以及n型AlGaN上接触层;(2)采用光刻、电子束蒸发、ICP刻蚀技术,在上接触层上制作上电极层;(3)采用光刻、电子束蒸发、ICP刻蚀技术,在下接触层上制作下电极层;(4)采用光刻、电子束蒸发等技术制作二维金属光栅结构。

9.根据权利要求8所述的一种高响应度的AlGaN基量子阱红外探测器制备方法,其特征在于:高温AlN缓冲层为脉冲原子层沉积方法生长,氨气通入时间占总气体通入时间的40%,脉冲原子层沉积的循环周期数为200~300。

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