[发明专利]用于单端光学测试仪器的阵列连接器测试线束

说明书

背景技术

本发明涉及光学测试仪器，更具体的涉及用于单端光学测试仪器的阵列连接器测试线束。

阵列连接器，例如连接器(MPO为多光纤推进型连接器的工业简称，为MPO连接器的商标)，包括多条排列成阵列的光纤。最常见的为1×12，但是2×12和其他配置是可用的。然而，测试仪器设计为与单光纤连接器相接。这些单光纤连接器有时候汇聚在一个双工链路中并且一些测试仪器设计为与这些相接。没有测试仪器配置为与阵列连接器相接。

为了弥补与阵列连接器相接的该缺失，现有技术要求一个定制线束，其将阵列连接器接口断点为单工连接器，如附图1所示。然后可以将测试器连接到第一单工连接器和第一待测光纤。然后必须断开测试器，接着连接到下一个以及后续的连接器从而测试阵列中的下一个以及后续光纤。理想情况下，断点线束中光纤的长度足够长从而抑制测试器的死区效应(激励信号被测试器探测出来后反射过快地返回的长度)。

线束包括发射缆端和尾缆端线束12，14，分别连接到阵列连接器16，16’，阵列连接器与待测光纤网络18相接。需要注意的是，光纤网络包括多条光纤，其中每条光纤对应阵列连接器的一个连接件。近端线束12具有多条发射缆连接光纤20，20’，20”等，具有接口连接器22，22’等，适于与测试仪器24相接。尾缆断点线束14具有相应的一组断点光纤26，26’等，具有连接器28，28’等，用于与测试仪器连接。

附图2表示根据现有技术进行测试涉及的测试步骤。为了完成光纤链路的测试，在步骤1，选定光纤组中的第一光纤，并且该光纤的发射缆断点连接器20(例如)连接到测试仪器上，尾缆断点连接器26连接到光纤的远端，并且执行测试步骤。接下来，将测试仪器连接到一个不同的发射缆断点光纤20’，并且将尾缆断点连接器26’连接到光纤的远端(步骤2)，并且执行测试步骤。连接后续发射缆断点光纤20”，20”’，26”，26”’等并且执行测试，直到整个光纤组(或者期望的子组)被测试。

接下来，测试仪器移到光纤网络的远端，尾缆和发射缆断点光纤连接器移动到光纤的相对端，其中尾缆断点光纤26连接到远端，并且发射端断点光纤20连接到近端(以前是远端)，于是启动测试顺序(步骤3)。一旦该测试完成，测试仪器连接到不同的发射缆断点光纤20’和尾缆断点光纤26’上(步骤4)，并且执行测试步骤。连接后续尾缆/发射缆断点光纤20”/26”，20”’/26”’等并且执行测试，直到整个光纤组(或者期望子组)再次被测试。

上述步骤实现光纤网络的全双向测试，但是需要对测试顺序和步骤进行小心监控从而保证所有的光纤都进行了适当测试。并且，测试步骤(包括需要将测试仪器移动到网络的相对端)可能是耗时的。

发明内容

根据本发明，光学线束系统提供了近端和远端线束，将光纤组环接在一起。近端线束具有连接到测试器上的接口。然后测试器实现整个光纤组的测试，光纤组采用两条线束产生横穿网络内整个光纤组或子组的单个光学路径的配置环接在一起，从而发射测试信号在整个环接光纤组内传播，软件分析识别线束并去除它们，这样剖析出待测光纤并且独立地进行分析和显示，提供了光纤的测量结果。

相应地，本发明的一个目的在于提供一种用于测试光纤系统的改进的系统、方法和装置。

本发明另一个目的在于提供一种在应用阵列连接器的测试光纤系统中使用的改进的测试线束系统。

本发明的另一个目的在于提供一种测试与阵列连接器相接的光纤系统的改进方法。

本发明的主题特别指出并在该说明书的结论部分明确地要求保护。然而，组织方式和操作方法以及其他优势和目的，可以参考如下描述，并且与附图结合考虑得到更好的理解，其中相同的附图标记表示相同的元件。

附图说明

附图1是根据现有技术的一种使用阵列连接器的光纤系统测试配置的示意图；

附图2说明根据现有技术，对应用阵列连接器的光纤网络进行测试的方法；

附图3是根据本公开的应用阵列连接器测试线束的光纤系统的测试配置的示意图；以及

附图4说明根据本公开的测试方法。

具体实施方式

根据本发明优选实施例的系统包括近端和远端线束，其中两条线束为由此连接的光纤提供环路连接，从而提供了然后可以测试的单个光学路径。近端连接器提供两条抽头连接光纤，用于将单个光学路径的相应端连接到测试仪器上，允许光纤网络的双向测试。