[发明专利]一种基于硅基薄膜衬底制备透明导电薄膜的方法有效
| 申请号: | 201310249995.0 | 申请日: | 2013-06-21 |
| 公开(公告)号: | CN103325888B | 公开(公告)日: | 2017-02-08 |
| 发明(设计)人: | 周洪彪;张化宇;韩杰才 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学深圳研究生院 |
| 主分类号: | H01L31/20 | 分类号: | H01L31/20 |
| 代理公司: | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)44248 | 代理人: | 韩英杰,许建 |
| 地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 薄膜 衬底 制备 透明 导电 方法 | ||
1.一种基于硅基薄膜衬底制备透明导电薄膜的方法,其特征在于,包括以下几个步骤:
步骤A、将靶材装入溅射靶中,将基片洗净后放入基片架上,抽真空,使基片能随基片架在溅射靶材上方直线往复动态沉积,获得薄膜;
步骤B、将所述基片加热,并于真空室内通入溅射气体,调节真空室压强。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤B中,所述基片加热的温度为50℃。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述溅射气体为氢气和氩气,其中,通入氩气的速度为100sccm。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述真空室压强为0.65Pa。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,溅射靶材的射频功率为300W-1200W。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述衬底采用硅基薄膜。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述靶材采用AZO陶瓷靶。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,其特征在于,所述溅射气压为0.65Pa,温度为100℃-250℃。
9.如权利要求3所述的方法,其特征在于,氢气在所述溅射气体中的体积比0-6%。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





