[发明专利]一种显示面板、显示面板的检测线路及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示面板、显示面板的检测线路及其检测方法。

背景技术

在显示面板的制造过程中，通常利用不同的介面将讯号送入显示面板中将其点亮以检测其是否有缺陷，通常进行一次点灯检测和二次点灯检测。在显示面板的二次点灯检测中，通常采用短路棒（shorting bar）检测方式。具体而言，将所有邦定区固化垫（bonding pad）的一端连接显示面板的显示区，另一端连接一条短路棒，而该短路棒的两端连接检测固化垫。在检测时检测信号通过检测固化垫输入，然后通过短路棒输送到邦定区固化垫，再通过邦定区固化垫输送到显示区中进行显示。检测结束后需要进行激光切割（laser cut）制程，以将短路棒和邦定区固化垫的连接切断。

上述的Shorting bar检测方式所需的治具简单，对治具的精度要求低，但由于在检测完成后需要进行laser cut，增加了一道工序，需要额外的机台来操作，因此增加了检测成本。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种显示面板、显示面板的检测线路及其检测方法，能够降低检测成本。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种显示面板的检测线路，该检测线路包括短路棒，短路棒的两端耦接测试固化垫，以从测试固化垫获取检测信号；多个邦定区固化垫，一端耦接短路棒，另一端耦接显示面板的显示区，以将检测信号传输到显示区；其中，在邦定区固化垫和短路棒之间设置有至少一组开关元件，开关元件在检测时接收检测信号后开启，以将短路棒上的检测信号传输到邦定区固化垫，并在检测结束后处于关闭状态，以防止显示面板正常显示时邦定区固化垫上的信号互相干扰。

其中，在邦定区固化垫的两端分别设置一个附加固化垫，附加固化垫与短路棒连接，以通过短路棒传输关闭信号来关闭开关元件。

其中，开关元件为TFT。

其中，邦定区固化垫包括扫描芯片邦定区固化垫，扫描芯片邦定区固化垫的一端连接TFT的源极，TFT的栅极和漏极连接短路棒。

其中，邦定区固化垫包括数据芯片邦定区固化垫，短路棒包括第一短路棒和第二短路棒，数据芯片邦定区固化垫的一端连接TFT的源极，TFT的栅极连接第一短路棒，TFT的漏极连接第二短路棒。

其中，附加固化垫与第一短路棒连接。

其中，检测线路仅设置一个TFT时，TFT的栅极和漏极连接短路棒，TFT的源极分别连接多个邦定区固化垫。

其中，检测线路设置多个TFT时，多个TFT的数量和邦定区固化垫的数量相同，且TFT的栅极和漏极连接短路棒，TFT的源极分别与对应的邦定区固化垫连接。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种显示面板，该显示面板包括显示区以及设置于显示区外围的检测线路，其中，检测线路为上述所述的检测线路。

为解决上述技术问题，本发明采用的又一个技术方案是：提供一种显示面板的检测方法，该方法包括以下步骤：在显示面板的短路棒和邦定区固化垫之间设置有至少一组开关元件；向短路棒提供检测信号，以开启开关元件；检测信号通过开启的开关元件后进入邦定区固化垫，然后传输到显示面板的显示区；在检测结束后，向开关元件提供关闭开关元件的关闭信号，以防止显示面板正常显示时邦定区固化垫上的信号互相干扰。

本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明的检测线路在短路棒和多个邦定区固化垫之间设置有至少一组开关元件，该开关元件在检测时接收短路棒的检测信号后开启，以将检测信号传输到邦定区固化垫，并在检测结束后处于关闭状态，以防止显示面板正常显示时邦定区固化垫上的信号互相干扰。通过上述方式，本发明通过设置开关元件，在检测时开启，并在检测结束后关闭，一方面保证了检测的效果，另一方面在检测结束后不需要额外机台断开开关元件和邦定区固化垫之间的连接，因此减少了检测工序和机台，降低了检测成本。

附图说明

图1是本发明第一实施例的具有检测线路的显示面板的结构示意图；

图2是图1所示的检测线路的扫描侧的放大图；

图3是图1所示的检测线路的数据侧的放大图；

图4是本发明第二实施例的具有检测线路的显示面板的结构示意图；

图5是本发明第三实施例的显示面板的检测方法的流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明进行详细的说明。