[发明专利]直观显示金属衬底上CVD石墨烯表面褶皱分布的方法有效
| 申请号: | 201310236946.3 | 申请日: | 2013-06-14 |
| 公开(公告)号: | CN103353437A | 公开(公告)日: | 2013-10-16 |
| 发明(设计)人: | 张燕辉;于广辉;陈志蓥;王彬;张浩然 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号: | G01N21/00 | 分类号: | G01N21/00 |
| 代理公司: | 上海泰能知识产权代理事务所 31233 | 代理人: | 黄志达 |
| 地址: | 200050 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 直观 显示 金属 衬底 cvd 石墨 表面 褶皱 分布 方法 | ||
技术领域
本发明属于石墨烯材料表征领域,特别涉及一种直观显示金属衬底上化学气相沉积(CVD)石墨烯表面褶皱分布的方法。
背景技术
自2004年两位在俄罗斯出生的科学家Andre Geim和Konstantin Novoselov发表第一篇有关石墨烯的论文后,石墨烯在科学界激起了巨大的波澜,它的出现有望在现代电子科技领域引发新一轮革命。石墨烯是由sp2杂化的碳原子组成的六角蜂窝状二维无机晶体材料【A.K.Geim,K.S.Novoselov,Nature Materials,2007,6,183-191】,只有一个碳原子层,厚度仅有0.335nm。石墨烯具备很多优越的性能,例如高透光率、高电子迁移率、高电流密度、高机械强度、易于修饰等等。正因为这些特性,它被公认为制造透明导电薄膜、高频晶体管、储氢电池,乃至集成电路的理想材料,具有广阔的市场应用前景。
CVD法是一种适于制备大面积、高质量、连续石墨烯薄膜的方法,CVD石墨烯最大的优点是质量相对较高,适于大量生产。到目前为止,CVD石墨烯的质量与剥离法制备的石墨烯还有一定差距。由于石墨烯和金属衬底的热膨胀系数不同,因此在生长完降温的过程中石墨烯因为应力的释放会形成褶皱,通过研究发现这种由于应力引起的石墨烯表面的褶皱是影响CVD石墨烯质量的因素之一,因此,准确掌握石墨烯表面褶皱情况对于了解石墨烯质量以及进一步改进生长工艺非常重要。由于这类应力引起的石墨烯表面的褶皱尺寸在纳米级,因此需要AFM等高放大倍数的显微镜才能观察到,而这类显微镜往往价格昂贵,操作复杂,表征成本很高。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种直观显示金属衬底上化学气相沉积石墨烯表面褶皱分布的方法,可通过低放大倍数的常规光学显微镜清晰地观察到石墨烯表面褶皱的分布情况。
本发明的一种直观显示金属衬底上CVD石墨烯表面褶皱分布的方法,包括:
将未转移的CVD石墨烯连同金属衬底一起放入密闭腔体中,抽真空后通入惰性气体,然后加热,再通入与石墨烯反应的气体,待反应结束后停止加热,停止通入反应气体,保持惰性气体保护,最后降温至室温,置于光镜下观察即可。可以清楚的看到部分石墨烯被刻蚀掉留下的条纹,被刻蚀的位置对应刻蚀前石墨烯褶皱的位置,从而使刻蚀前需要原子力显微镜(AFM)等超高放大倍数的显微镜才能观测的褶皱分布在放大倍数1000倍以下的常规光学显微镜下清晰显示出来。
所述的石墨烯为石墨烯连续膜或石墨烯单晶。
所述的金属衬底为铜、镍、钼、钌、铂等适于石墨烯制备的过渡金属以及这类金属的合金。
所述的惰性气体为氩气或氮气。
所述的加热温度为20-1200℃。
所述的与石墨烯反应的气体为氢气、氨气等任何可以和石墨烯反应的气体。
所述的反应过程中,气压为0.0001-760000torr。
所述的反应过程中反应时间为0.1-99999min。
本发明中所述的石墨烯连续膜其薄膜层数与均匀性不限;所述的石墨烯单晶其单晶形状和尺寸不限。
鉴于CVD石墨烯表面褶皱表征的重要性以及当下对此表征相对困难的事实,本发明的目的在于提供一种便于观察石墨烯表面褶皱分布的方法,通过低放大倍数的常规光学显微镜就可以清晰地观察到石墨烯表面褶皱的分布情况。
我们研究发现在高温还原气氛中石墨烯表面褶皱处会成为刻蚀的起始点,一段时间后会有较大面积的石墨烯被刻蚀掉,刻蚀掉的部分已经足以在低倍光学显微镜下清晰的观察到,因此,通过观察刻蚀的情况,我们就可以间接掌握石墨烯表面纳米级褶皱分布情况。
有益效果:
(1)本发明的观察方法重复性高、简单易行;
(2)本发明通过选择性刻蚀的方法,使CVD石墨烯表面褶皱附近的石墨烯大量去除,从而通过低放大倍数的光学显微镜就可以观察到纳米级褶皱的分布情况。
附图说明
图1为本发明实施实例所用刻蚀系统装置示意图;其中,1为进气气路,2为出气气路,3为衬底托,4为加热炉体,5为石英管;
图2为铜衬底上CVD石墨烯单晶样品在本发明实施例1处理前后的光镜图片,其中a为理前样品的光镜图片,b为处理后样品的光镜图片;
图3为本发明实施例2处理后样品的光镜图片。
具体实施方式
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