[发明专利]脉冲激光沉积法制备Al-N共掺杂P型ZnO薄膜无效

专利信息
申请号: 201310235493.2 申请日: 2013-06-14
公开(公告)号: CN103290366A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 韩培培;王丽;权纯逸;连建设 申请(专利权)人: 沈阳飞机工业(集团)有限公司
主分类号: C23C14/28 分类号: C23C14/28;C23C14/08
代理公司: 沈阳杰克知识产权代理有限公司 21207 代理人: 杨光
地址: 110034 *** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 脉冲 激光 沉积 法制 al 掺杂 zno 薄膜
【说明书】:

技术领域

发明属于半导体薄膜材料领域,具体涉及一种Al-N共掺杂P型ZnO薄膜的制备。 

背景技术

氧化锌(ZnO)是一种禁带能为3.2eV的半导体材料,由于其独特的光电性能和压电性能,被广泛地应用于各个领域,例如光电导、发光器件、激光器、透明导电薄膜、气体传感器和太阳能电池等。ZnO本质上是N型导电,通过掺入Al或Ga等元素已经制备出了性能较好的N型ZnO薄膜,但由于受主元素在ZnO中较低的固溶度、较深的受主能级、施主缺陷的自补偿等缘故,很难制备出优良的P型ZnO薄膜。 

ZnO薄膜的制备方法有很多种,如金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)、分子束外延法(MBE)、溶胶凝胶法(Sot-Gel)和脉冲激光沉积法(PLD)等等。与其它方法相比,脉冲激光沉积法具有简单的结构且操作方便,已经被广泛的应用于制备高质量的薄膜材料。目前,采用PLD法,通过Ga-N和In-N共掺杂可以制备P型ZnO薄膜,但是,Ga和In的成本高,反应施主杂质的极化能In<Ga<Al。 

发明内容

本发明针对现有技术的不足,提供一种性能优良的脉冲激光沉积法制备Al-N共掺杂P型ZnO薄膜。 

为实现上述目的,本发明采用的技术方案是: 

脉冲激光沉积法制备Al-N共掺杂P型ZnO薄膜,方法如下:

1)靶材的选择:采用Al-Zn靶,其中Al含量为2.5 wt.%~3.5 wt.%;

2)石英玻璃衬底的清洗;

3)抽真空:将清洗后的石英玻璃片放入沉积室,将沉积室抽真空至3.0×10-4 Pa ~7.0×10-4 Pa; 

4)向沉积室里充N2O气体(纯度为99.99%):使N2O气体压强在3~7 Pa;

5)薄膜沉积:采用脉冲激光器在石英玻璃衬底温度为480~520 ℃,沉积48~52 min。

上述的脉冲激光沉积法制备Al-N共掺杂P型ZnO薄膜,所述的石英玻璃衬底清洗的方法如下:在超声波震动仪内,先用丙酮清洗三次,每次清洗时间为10min~15min,然后用乙醇清洗10min~15min。 

本发明的有益效果:本发明的脉冲激光沉积法结构简单且操作方便,可以通过调节激光能量、脉冲宽度及激光频率等来控制薄膜的原子层厚度;本发明采用Al-N共掺杂,与Ga-N和In-N共掺杂中的Ga或In相比,Al原料丰富、价格低廉;本发明采用Al-Zn靶,与氧化锌陶瓷靶相比制备工艺简单、成本低廉;本发明制备的Al-N共掺杂P型ZnO薄膜具有高度的002晶面优先取向和良好的结晶质量,表现出优异的光学性能。 

附图说明

图1是本发明使用的脉冲激光沉积装置的示意图。图中编号1为Al-Zn靶,编号2为石英玻璃衬底,编号3为激光束,编号4为羽辉。 

图2是不同的N2O分压下制备的Al-N共掺杂P型ZnO薄膜的XRD图谱。 

图3是不同的N2O分压下Al-N共掺杂P型ZnO薄膜的透光率图。 

图4当N2O分压为5Pa时,Al-N共掺杂ZnO薄膜的XPS图谱。 

具体实施方式

实施例1 脉冲激光沉积法制备Al-N共掺杂P型ZnO薄膜及性能情况 

(一)脉冲激光沉积法制备Al-N共掺杂P型ZnO薄膜

采用装置如图1所示,制备方法如下:

1)靶材的选择:采用Al-Zn靶,其中Al含量为3wt.%;

2)石英玻璃衬底的清洗:在超声波震动仪内,先用丙酮清洗三次,每次清洗时间为15min,然后在超声波震动仪内用乙醇清洗15min;

3)抽真空:将清洗后的石英玻璃片放入沉积室,将沉积室抽真空至5.0×10-4 Pa;

4)向沉积室里充N2O气体(纯度为99.99%):使N2O气体压强在5Pa;

5)薄膜沉积:采用Nd:YAG脉冲激光器在频率为20HZ、波长1064nm、脉冲宽度100ns、激光能量密度为0.208J/cm2,石英玻璃衬底温度为500℃,沉积时间为50min,衬底与靶材的距离为2.5 cm,衬底与靶材保持同速旋转。

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