[发明专利]脉冲激光沉积法制备Al-N共掺杂P型ZnO薄膜无效
| 申请号: | 201310235493.2 | 申请日: | 2013-06-14 |
| 公开(公告)号: | CN103290366A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
| 发明(设计)人: | 韩培培;王丽;权纯逸;连建设 | 申请(专利权)人: | 沈阳飞机工业(集团)有限公司 |
| 主分类号: | C23C14/28 | 分类号: | C23C14/28;C23C14/08 |
| 代理公司: | 沈阳杰克知识产权代理有限公司 21207 | 代理人: | 杨光 |
| 地址: | 110034 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 脉冲 激光 沉积 法制 al 掺杂 zno 薄膜 | ||
技术领域
本发明属于半导体薄膜材料领域,具体涉及一种Al-N共掺杂P型ZnO薄膜的制备。
背景技术
氧化锌(ZnO)是一种禁带能为3.2eV的半导体材料,由于其独特的光电性能和压电性能,被广泛地应用于各个领域,例如光电导、发光器件、激光器、透明导电薄膜、气体传感器和太阳能电池等。ZnO本质上是N型导电,通过掺入Al或Ga等元素已经制备出了性能较好的N型ZnO薄膜,但由于受主元素在ZnO中较低的固溶度、较深的受主能级、施主缺陷的自补偿等缘故,很难制备出优良的P型ZnO薄膜。
ZnO薄膜的制备方法有很多种,如金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)、分子束外延法(MBE)、溶胶凝胶法(Sot-Gel)和脉冲激光沉积法(PLD)等等。与其它方法相比,脉冲激光沉积法具有简单的结构且操作方便,已经被广泛的应用于制备高质量的薄膜材料。目前,采用PLD法,通过Ga-N和In-N共掺杂可以制备P型ZnO薄膜,但是,Ga和In的成本高,反应施主杂质的极化能In<Ga<Al。
发明内容
本发明针对现有技术的不足,提供一种性能优良的脉冲激光沉积法制备Al-N共掺杂P型ZnO薄膜。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:
脉冲激光沉积法制备Al-N共掺杂P型ZnO薄膜,方法如下:
1)靶材的选择:采用Al-Zn靶,其中Al含量为2.5 wt.%~3.5 wt.%;
2)石英玻璃衬底的清洗;
3)抽真空:将清洗后的石英玻璃片放入沉积室,将沉积室抽真空至3.0×10-4 Pa ~7.0×10-4 Pa;
4)向沉积室里充N2O气体(纯度为99.99%):使N2O气体压强在3~7 Pa;
5)薄膜沉积:采用脉冲激光器在石英玻璃衬底温度为480~520 ℃,沉积48~52 min。
上述的脉冲激光沉积法制备Al-N共掺杂P型ZnO薄膜,所述的石英玻璃衬底清洗的方法如下:在超声波震动仪内,先用丙酮清洗三次,每次清洗时间为10min~15min,然后用乙醇清洗10min~15min。
本发明的有益效果:本发明的脉冲激光沉积法结构简单且操作方便,可以通过调节激光能量、脉冲宽度及激光频率等来控制薄膜的原子层厚度;本发明采用Al-N共掺杂,与Ga-N和In-N共掺杂中的Ga或In相比,Al原料丰富、价格低廉;本发明采用Al-Zn靶,与氧化锌陶瓷靶相比制备工艺简单、成本低廉;本发明制备的Al-N共掺杂P型ZnO薄膜具有高度的002晶面优先取向和良好的结晶质量,表现出优异的光学性能。
附图说明
图1是本发明使用的脉冲激光沉积装置的示意图。图中编号1为Al-Zn靶,编号2为石英玻璃衬底,编号3为激光束,编号4为羽辉。
图2是不同的N2O分压下制备的Al-N共掺杂P型ZnO薄膜的XRD图谱。
图3是不同的N2O分压下Al-N共掺杂P型ZnO薄膜的透光率图。
图4当N2O分压为5Pa时,Al-N共掺杂ZnO薄膜的XPS图谱。
具体实施方式
实施例1 脉冲激光沉积法制备Al-N共掺杂P型ZnO薄膜及性能情况
(一)脉冲激光沉积法制备Al-N共掺杂P型ZnO薄膜
采用装置如图1所示,制备方法如下:
1)靶材的选择:采用Al-Zn靶,其中Al含量为3wt.%;
2)石英玻璃衬底的清洗:在超声波震动仪内,先用丙酮清洗三次,每次清洗时间为15min,然后在超声波震动仪内用乙醇清洗15min;
3)抽真空:将清洗后的石英玻璃片放入沉积室,将沉积室抽真空至5.0×10-4 Pa;
4)向沉积室里充N2O气体(纯度为99.99%):使N2O气体压强在5Pa;
5)薄膜沉积:采用Nd:YAG脉冲激光器在频率为20HZ、波长1064nm、脉冲宽度100ns、激光能量密度为0.208J/cm2,石英玻璃衬底温度为500℃,沉积时间为50min,衬底与靶材的距离为2.5 cm,衬底与靶材保持同速旋转。
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