[发明专利]用于陷波滤波的装置和方法有效
申请号: | 201310233422.9 | 申请日: | 2013-06-13 |
公开(公告)号: | CN103490746A | 公开(公告)日: | 2014-01-01 |
发明(设计)人: | F·阿玛德 | 申请(专利权)人: | 美国亚德诺半导体公司 |
主分类号: | H03H11/34 | 分类号: | H03H11/34 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 申发振 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 陷波 滤波 装置 方法 | ||
1.一种放大器,其包括:
多个放大级,其被配置来放大差分输入电压信号以生成输出信号;
斩波器块,其被配置来以斩波频率对与所述多个放大级相关的放大的差分信号进行斩波以生成斩波信号;和
陷波滤波器,其被配置来以所述斩波频率使所述斩波信号衰减以生成陷波信号,其中所述陷波滤波器包括:
第一有限脉冲响应(FIR)滤波器,其被配置来对所述斩波信号进行采样以生成第一多个样本作为输出;
第二FIR滤波器,其被配置来对所述斩波信号进行采样以生成第二多个样本作为输出,其中所述第一多个样本的至少部分相对于所述第二多个样本是时间交错的;和
无限脉冲响应(IIR)滤波器,其被配置来至少部分地通过对所述第一FIR滤波器的所述输出和所述第二FIR滤波器的所述输出求积分而生成所述陷波信号。
2.根据权利要求1所述的放大器,其中所述IIR滤波器还被配置来通过对所述第一多个样本求平均并通过对所述第二多个样本求平均而生成所述陷波信号。
3.根据权利要求1所述的放大器,其中所述陷波滤波器还包括第三FIR滤波器,其被配置来周期性地对所述斩波信号进行采样以生成第三多个样本作为输出,且其中所述第三多个样本的至少部分相对于所述第一多个样本和所述第二多个样本是时间交错的,且其中所述IIR滤波器还被配置来通过对所述第三FIR滤波器的所述输出求积分而生成所述陷波信号。
4.根据权利要求3所述的放大器,其中所述第一FIR滤波器被配置来在第一采样阶段期间生成所述斩波信号的第一样本和在第二采样阶段期间生成所述斩波信号的第二样本,且其中所述第二FIR滤波器被配置来在所述第二采样阶段期间生成所述斩波信号的第三样本和在第三采样阶段期间生成所述斩波信号的第四样本,且其中所述第三FIR滤波器被配置来在所述第三采样阶段期间生成所述斩波信号的第五样本和在所述第一采样阶段期间生成所述斩波信号的第六样本。
5.根据权利要求4所述的放大器,其中所述第一FIR滤波器包括:第一采样电容器,其被配置来存储所述第一样本;和第二采样电容器,其被配置来存储所述第二样本,且其中所述第二FIR滤波器包括:第三采样电容器,其被配置来存储所述第三样本;和第四采样电容器,其被配置来存储所述第四样本,且其中所述第三FIR滤波器包括:第五采样电容器,其被配置来存储所述第五样本;和第六采样电容器,其被配置来存储所述第六样本。
6.根据权利要求5所述的放大器,其中所述IIR滤波器包括积分电容器,且其中所述IIR滤波器被配置来基于跨所述积分电容器的电压而生成所述陷波信号,且其中所述第一FIR滤波器被配置来在所述第三采样阶段期间将所述第一采样电容器和所述第二采样电容器电连接到所述积分电容器,且其中所述第二FIR滤波器被配置来在所述第一采样阶段期间将所述第三采样电容器和所述第四采样电容器电连接到所述积分电容器,且其中所述第三FIR滤波器被配置来在所述第二采样阶段期间将所述第五采样电容器和所述第六采样电容器电连接到所述积分电容器。
7.根据权利要求1所述的放大器,其中所述第一多个样本和所述第二多个样本与约等于所述斩波频率的两倍的采样速率相关。
8.根据权利要求1所述的放大器,其中所述多个放大级包括第一放大级,且其中所述斩波器块包括输入斩波电路和输出斩波电路,且其中所述输入斩波电路被配置来以所述斩波频率对所述差分输入电压信号进行斩波以生成斩波差分输入信号,且其中所述第一放大级被配置来放大所述斩波差分输入信号以生成所述放大的差分信号,且其中所述输出斩波电路被配置来以所述斩波频率对所述放大的差分信号进行斩波以生成所述斩波信号。
9.根据权利要求8所述的放大器,其中所述多个放大级还包括第二放大级,其被配置来放大所述陷波信号以生成所述输出信号。
10.根据权利要求1所述的放大器,其中所述多个放大级包括第一放大级,且其中所述斩波器块包括输入斩波电路和输出斩波电路,且其中所述输入斩波电路被配置来以所述斩波频率对所述差分输入电压信号进行斩波以生成斩波差分输入信号,且其中所述第一放大级被配置来组合所述斩波差分输入信号与所述陷波信号以生成组合信号,且其中所述输出斩波电路被配置来以所述斩波频率对所述组合信号进行斩波以生成斩波组合信号。
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