[发明专利]一种触摸检测方法、装置及触摸屏系统

说明书

技术领域

本申请涉及触摸屏技术领域，特别是涉及一种互电容和自电容结合的触摸测量方法、装置及触摸屏系统。

背景技术

电容式触摸屏广泛应用于各类人机交互的电子产品中，比如，手机、平板电脑，以及大尺寸电子产品-智能电视。

传统的电容式触摸屏检测层有多种类型，比如表面电容、投射式互电容、投射式自电容，互电容方式能够支持多点触控等优势，成为电容式触摸屏的主流应用，自电容方式仅能支持单点或两点，但其具有成本低、防水性能强、灵敏度高等优点。因此，为了弥补各自的缺点，将自电容方式和互电容方式结合得到混合式电容式触摸检测方式。自电容检测方式下，依次分别检测Y方向电极阵列、X方向的电极阵列，依据触摸前后电容的变化，分别确定Y方向坐标和X方向坐标。互电容检测方式下，Y方向的电极作为驱动电极，X方向的电极作为检测电极，Y方向的电极依次发出激励信号，X方向的所有电极同时接收信号，从而得到所有Y方向的电极和X方向的电极交汇点的耦合电容的容值大小，从而确定触摸坐标。

现有的互电容和自电容结合的检测方式下，均需要进行自电容检测过程，以及互电容检测过程，其中，所述自电容检测过程包括Y方向的电极阵列检测、X方向的电极阵列检测，所述互电容检测过程为XY方向的电极阵列检测，上述的三种检测过程按照一定的顺序检测完成后，才能获得检测数据，且必须对上述的三种检测过程都检测完成后才能获得检测数据，因此，在互电容和自电容结合的检测方式下，获得检测数据的时间比单独进行互电容检测或单独进行自电容检测时的时间长，而且随着触摸屏的尺寸越来越大，触摸检测通道越来越多，互电容和自电容结合的检测方式需要花费的检测时间将会越来越多，大大降低了触摸检测速率，同时，与原来的单独互电容检测方式或单独的自电容检测方式相比，增加了功耗。

发明内容

为解决上述技术问题，本申请实施例提供一种触摸检测方法、装置及触摸屏系统，以提高触摸检测的速率、降低功耗，技术方案如下：

本申请提供一种触摸检测方法，应用于互电容和自电容结合的触摸屏，包括：

利用第一检测过程的检测结果判断所述触摸屏的屏体是否产生触摸信号，得到第一判断结果，所述第一检测过程为Y方向的电极阵列检测、X方向的电极阵列检测或XY方向的电极阵列检测；

当得到所述触摸屏的屏体未产生触摸信号的第一判断结果时，屏蔽未执行的检测过程，其中，所述未执行的检测过程为Y方向的电极阵列检测、X方向的电极阵列检测和XY方向的电极阵列检测此三种检测过程中除所述第一检测过程之外的检测过程；

当得到所述触摸屏的屏体产生触摸信号的第一判断结果时，通过所述第一检测过程或第二检测过程的检测结果判断所述触摸信号的触摸类型，得到第二判断结果，所述触摸类型包括单点触摸和多点触摸，所述第二检测过程为三种检测过程中除所述第一检测过程之外的任意一种；

当得到所述触摸信号为多点触摸信号的第二判断结果时，不启动未执行的自电容检测过程；

依据已执行的检测过程的检测结果，获得所述触摸信号对应的触摸信息。

优选的，上述的触摸检测方法包括：当得到所述触摸信号为单点触摸信号的第二判断结果时，启动未执行的自电容检测过程。

优选的，当所述已执行的检测过程包括Y方向的电极矩阵检测、X方向的电极矩阵检测和XY方向的电极矩阵检测时，所述依据已执行的检测过程得到的检测结果，获得所述触摸信号对应的触摸信息，具体为：

依据Y方向的电极矩阵检测和X方向的电极矩阵检测的检测结果，得到所述触摸信号对应的第一坐标信息；

依据XY方向的电极矩阵检测的检测结果，得到所述触摸信号对应的第二坐标信息；

将所述第一坐标信息和所述第二坐标信息进行平均，得到所述触摸信号的坐标信息。

优选的，当所述第一检测过程为Y方向的电极阵列检测，且所述第二检测过程为XY方向的电极阵列检测时，所述未执行的自电容检测过程为X方向的电极阵列检测；

当所述第一检测过程为X方向的电极阵列检测，且所述第二检测过程为XY方向的电极阵列检测时，所述未执行的自电容检测过程为Y方向的电极阵列检测；

当所述第一检测过程为XY方向的电极阵列检测时，所述未执行的自电容检测过程为X方向的电极阵列检测和Y方向的电极阵列检测。

优选的，当所述第一检测过程为Y方向的电极阵列检测或X方向的电极阵列检测，且所述第二检测过程为XY方向的电极阵列检测时，在通过所述第一检测过程的检测结果判断出所述触摸屏的屏体产生触摸信号之后，启动所述第二检测过程之前，还包括：