[发明专利]台阶型微凸点结构及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201310232602.5 申请日: 2013-06-09
公开(公告)号: CN103325751A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 王宏杰;陆原 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
主分类号: H01L23/485 分类号: H01L23/485;H01L21/60
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所 32104 代理人: 曹祖良
地址: 214135 江苏省无锡市新区太湖国*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 台阶 型微凸点 结构 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种台阶型微凸点结构,包括基板体(110)及位于所述基板体(110)上的连接电极层(111)、钝化层(112)及凸点下金属化层(113);所述凸点下金属化层(113)上设有金属柱(220);其特征是:所述金属柱(220)至少包括第一柱体层(221)及位于所述第一柱体层(221)上的第二柱体层(222);所述第一柱体层(221)与凸点下金属化层(113)电连接,第二柱体层(222)与第一柱体层(221)间形成台阶;第二柱体层(222)的上方设有阻挡金属层(330),所述阻挡金属层(330)上设有焊料帽(400)。

2.根据权利要求1所述的台阶型微凸点结构,其特征是:所述第二柱体层(222)的外径小于第一柱体层(221)的外径,以使得第一柱体层(221)与第二柱体层(222)间形成台阶。

3.根据权利要求1或2所述的台阶型微凸点结构,其特征是:所述阻挡金属层(330)位于第二柱体层(222)的顶端,焊料帽(400)通过阻挡金属层(330)与第二柱体层(222)电连接。

4.根据权利要求1所述的台阶型微凸点结构,其特征是:所述阻挡金属层(330)的材料包括Ni。

5.根据权利要求1所述的台阶型微凸点结构,其特征是:所述基板体(110)为封装芯片或硅转接板。

6.一种台阶型微凸点结构的制备方法,其特征是,所述微凸点结构的制备方法包括如下步骤:

(a)、提供基板体(110),并在所述基板体(110)上设置连接电极层(111)、钝化层(112)及凸点下金属化层(113),所述凸点下金属化层(113)通过连接电极层(111)与基板体(110)电连接;

(b)、在上述凸点下金属化层(113)上设置第一柱体层(221),所述第一柱体层(221)与凸点下金属化层(113)电连接;

(c)、在上述第一柱体层(221)上设置用于与第一柱体层(221)形成所需台阶的柱体结构,所述柱体结构至少包括第二柱体层(222);

(d)、在上述主体结构上设置阻挡金属层(330);

(e)、在上述阻挡金属层(330)上设置与阻挡金属层(330)相匹配的焊料帽(400)。

7.根据权利要求6所述台阶型微凸点结构的制备方法,其特征是:所述第二柱体层(222)的外径小于第一柱体层(221)的外径。

8.根据权利要求6所述台阶型微凸点结构的制备方法,其特征是:所述第一柱体层(221)通过电镀设置在凸点下金属化层(113)上。

9.根据权利要求6所述台阶型微凸点结构的制备方法,其特征是:所述基板体(110)为封装芯片或硅转接板。

10.根据权利要求6所述台阶型微凸点结构的制备方法,其特征是:所述钝化层(112)包括氮化硅层。

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