[发明专利]台阶型微凸点结构及其制备方法无效
申请号: | 201310232602.5 | 申请日: | 2013-06-09 |
公开(公告)号: | CN103325751A | 公开(公告)日: | 2013-09-25 |
发明(设计)人: | 王宏杰;陆原 | 申请(专利权)人: | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L23/485 | 分类号: | H01L23/485;H01L21/60 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所 32104 | 代理人: | 曹祖良 |
地址: | 214135 江苏省无锡市新区太湖国*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 台阶 型微凸点 结构 及其 制备 方法 | ||
1.一种台阶型微凸点结构,包括基板体(110)及位于所述基板体(110)上的连接电极层(111)、钝化层(112)及凸点下金属化层(113);所述凸点下金属化层(113)上设有金属柱(220);其特征是:所述金属柱(220)至少包括第一柱体层(221)及位于所述第一柱体层(221)上的第二柱体层(222);所述第一柱体层(221)与凸点下金属化层(113)电连接,第二柱体层(222)与第一柱体层(221)间形成台阶;第二柱体层(222)的上方设有阻挡金属层(330),所述阻挡金属层(330)上设有焊料帽(400)。
2.根据权利要求1所述的台阶型微凸点结构,其特征是:所述第二柱体层(222)的外径小于第一柱体层(221)的外径,以使得第一柱体层(221)与第二柱体层(222)间形成台阶。
3.根据权利要求1或2所述的台阶型微凸点结构,其特征是:所述阻挡金属层(330)位于第二柱体层(222)的顶端,焊料帽(400)通过阻挡金属层(330)与第二柱体层(222)电连接。
4.根据权利要求1所述的台阶型微凸点结构,其特征是:所述阻挡金属层(330)的材料包括Ni。
5.根据权利要求1所述的台阶型微凸点结构,其特征是:所述基板体(110)为封装芯片或硅转接板。
6.一种台阶型微凸点结构的制备方法,其特征是,所述微凸点结构的制备方法包括如下步骤:
(a)、提供基板体(110),并在所述基板体(110)上设置连接电极层(111)、钝化层(112)及凸点下金属化层(113),所述凸点下金属化层(113)通过连接电极层(111)与基板体(110)电连接;
(b)、在上述凸点下金属化层(113)上设置第一柱体层(221),所述第一柱体层(221)与凸点下金属化层(113)电连接;
(c)、在上述第一柱体层(221)上设置用于与第一柱体层(221)形成所需台阶的柱体结构,所述柱体结构至少包括第二柱体层(222);
(d)、在上述主体结构上设置阻挡金属层(330);
(e)、在上述阻挡金属层(330)上设置与阻挡金属层(330)相匹配的焊料帽(400)。
7.根据权利要求6所述台阶型微凸点结构的制备方法,其特征是:所述第二柱体层(222)的外径小于第一柱体层(221)的外径。
8.根据权利要求6所述台阶型微凸点结构的制备方法,其特征是:所述第一柱体层(221)通过电镀设置在凸点下金属化层(113)上。
9.根据权利要求6所述台阶型微凸点结构的制备方法,其特征是:所述基板体(110)为封装芯片或硅转接板。
10.根据权利要求6所述台阶型微凸点结构的制备方法,其特征是:所述钝化层(112)包括氮化硅层。
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