[发明专利]一种斜模式采样建模与超分辨率重建方法有效
| 申请号： | 201310231478.0 | 申请日： | 2013-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN103440619B | 公开（公告）日： | 2018-04-17 |
| 发明（设计）人： | 禹晶;潘宗序;孙卫东 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T7/00 |
| 代理公司： | 西安智大知识产权代理事务所61215 | 代理人： | 贾玉健 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 模式 采样 建模 分辨率 重建 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种斜模式采样建模与超分辨率重建方法，其特征在于，包括如下步骤：
基于线阵的推帚成像方式，采用单线阵进行斜模式数据采集，在数据采集过程中，成像线阵与推帚方向成26.56°或63.44°角，并通过控制推帚方向采样间距为4p或2p，将斜模式采样网格以基向量e1＝(4p,0)T、e2＝(2p,p)T延拓，或者，以基向量e1＝(2p,0)T、e2＝(p,2p)T延拓；
将斜模式采样网格上的像元坐标系映射到高分辨率常规采样网格上的像元坐标系，网格中像元间的距离为p；
在空间坐标系中，对斜模式采样的像元点进行Delaunay三角剖分；
对于高分辨率网格上的未知像元，由它所在的三角形顶点的已知像元值，采用多项式插值计算高分辨率网格上的未知像元值。
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