[发明专利]一种基于衍射光栅位移技术的滚转角测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310222644.0 申请日: 2013-06-06
公开(公告)号: CN103292744A 公开(公告)日: 2013-09-11
发明(设计)人: 王昭;郭俊杰;汤善治;李朝辉 申请(专利权)人: 西安交通大学;陕西恒通智能机器有限公司
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 衍射 光栅 位移 技术 转角 测量 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种基于衍射光栅位移技术的滚转角测量装置,其特征在于,包括双频激光器(1)、5%反射镜(2)、偏振分光棱镜(4)、衍射光栅(10)以及第一、二反射器(8、12);在所述双频激光器(1)的光轴后设置5%反射镜(2),所述5%反射镜(2)的反射光轴上设有第一检偏器和第三光电接收器(15);所述5%反射镜(2)的透射光轴上设有偏振分光棱镜(4);所述的偏振分光棱镜(4)的透射光轴上且与该光轴垂直设置有衍射光栅(10);所述衍射光栅(10)的±1级衍射光轴上分别设置有第一反射器(8)和第二反射器(12);所述的偏振分光棱镜(4)的反射光轴上设有第一50%分光镜(5);所述第一50%分光镜(5)的透射光轴与所述第一反射器(8)的出射光轴交点处设有第第二50%分光镜(6);所述第一50%分光镜(5)的反射光轴上设有高反射光镜(7);所述高反射光镜(7)的反射光轴与所述第二反射器(12)的出射光轴交点处设有第三50%分光镜(13);所述第二50%分光镜(6)和第三50%分光镜(13)的光轴上分别设有第二、三检偏器和第一、二光电接收器(3、14)。

2.根据权利要求1所述的基于衍射光栅位移技术的滚转角测量装置,其特征在于,所述衍射光栅(10)的两端设置有用以固定衍射光栅(10)的第一固定支架(9)和第二固定支架(11),所述第一固定支架(9)和第二固定支架(11)的下端分别固定第一反射器(8)和第二反射器(12)。

3.根据权利要求2所述的基于衍射光栅位移技术的滚转角测量装置,其特征在于,所述衍射光栅(10)被固定在被测对象上,作为敏感元件,第一、二反射器(8、12)通过第一、二固定支架(9、10)被固定以保证与所述衍射光栅(10)相对静止;由衍射光栅(10)和第一、二反射器(8、12)构成一体的目标反射器(102);由双频激光器(1)、5%反射镜(2)、第一、二、三检偏器和第一、二、三光电接收器(3、14、15),偏振分光棱镜(4)、第一、二、三50%反射镜(5、6、13)和高反射光镜(7)构成测量头(101)。

4.根据权利要求1、2或3所述的基于衍射光栅位移技术的滚转角测量装置,其特征在于,所述第一、二反射器(8、12)为斯密特棱镜或高反射镜。

5.一种基于权利要求1-3任意一项所述装置的滚转角测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)双频激光器(1)发出的光束经过5%分光镜(2)被分成两束光,其中反射光束经第一检偏器和第三光电接收器(15)后被接收,视为参考信号;

2)由5%分光镜(2)出射的透射光束经过偏振分光棱镜(4)后被分成S光和P光;S光经偏振分光棱镜(4)反射后经过第一50%分光镜(5)分为两束,其中透射光束经第二50%反射镜(6)反射后入射到第二检偏器和第一光电接收器(3)被接收,为第二光电接收器(14)的参考光束,其中反射光束经高反射镜(7)和第三50%反射镜(13)反射后入射到第三检偏器和第二光电接收器(14)被接收,为第三光电接收器(15)的参考光束;P光透过偏振分光棱镜(4)正入射到衍射光栅(10)后发生衍射,其中+1级衍射光束经第一反射器(8)反射后,与衍射光栅(10)正交方向出射,透过第二50%反射镜(6)入射到第二检偏器和第一光电接收器(3)被接收,为第二光电接收器(14)的测量光束,同理,其中-1级衍射光束经第二反射器(12)反射后,与衍射光栅(10)正交方向出射,透过第三50%反射镜(13)入射到第三检偏器和第二光电接收器(14)被接收,为第三光电接收器(15)的测量光束;第二光电接收器(14)所接收的参考光束与测量光束的干涉信号视为+1级测量信号,第三光电接收器(15)所接收的参考光束与测量光束的干涉信号视为-1级测量信号;

3)±1级测量信号、参考信号分别经比较器、计数和采集电路最终被计数器计数得数值C+1、C-1和CR,通过外差技术将测量信号与参考信号进行差值可得ΔC+1和ΔC-1,最终将数据输送至PC机中,再次差值得N,根据衍射光栅的多普勒效应计算出光栅的微小位移S,依据微小位移量S和转角的几何关系α=S/R,求解出被测滚转角α,其中R为滚转半径。

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