[发明专利]电流过冲限制电路

权利要求书

1.一种用于限制电流过冲的装置，包括：

放大器，包括输入端和输出端，所述输出端被配置为提供输出电压；

检测晶体管，包括连接到所述放大器的所述输出端处的检测栅极，且被配置为使用第一输入电压提供检测电压；

吸收晶体管，包括连接到所述放大器的所述输出端处的吸收栅极，所述吸收晶体管连接到电子元件上且被配置为使用第二输入电压提供吸收电压；

开关反馈电路，被配置为通过基于所述第二输入电压选择性地将所述检测电压和所述吸收电压连接到所述放大器的所述输入端处，利用所述放大器的所述输出电压对所述检测栅极和所述吸收栅极进行预处理；

其中，所述第二输入电压被配置为选择性地被启动，所述第二输入电压被配置为当所述第二输入电压被启动时，从初始电压变化到最终电压；以及

其中，所述开关反馈电路被配置为选择性地将所述检测电压连接到所述放大器的所述输入端处，以限制所述电子元件中的电流过冲。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述吸收晶体管的大小大于所述检测晶体管的大小。

3.根据权利要求2所述的装置，其中，所述检测晶体管连接到所第一电阻器上且所述吸收晶体管连接到第二电阻器上；

其中，所述吸收晶体管的大小与所述检测晶体管的大小以一比例成正比；

其中，所述第二电阻器的大小与所述第一电阻器的大小以所述比例成反比。

4.根据权利要求1-3中的任一项所述的装置，其中，所述吸收电压基于所述电子元件上的电压降。

5.根据权利要求4所述的装置，其中，所述电子元件中的电流过冲基于超过所述电子元件的合规电压的所述元件上的电压降。

6.根据权利要求1-3中的任一项所述的装置，其中，所述开关反馈电路包括：

比较器，被配置为产生输出且连接到所述吸收晶体管和所述电子元件之间；以及

开关，连接到所述比较器和所述检测晶体管及所述吸收晶体管之间，所述开关被配置为选择性地将所述检测晶体管和所述吸收晶体管中的至少一个进行连接，以基于或至少部分基于所述比较器的输出将所述检测电压和所述吸收电压中的至少一个提供给所述放大器的所述输入端。

7.根据权利要求6所述的装置，其中，所述开关为二元开关，所述二元开关被配置为在任何时候选择性地将所述检测电压和所述库电压中的仅一个连接到所述放大器输入端处。

8.根据权利要求6所述的装置，其中，所述比较器被配置为将基于所述吸收电压的比较电压和参考电压进行比较以产生所述输出电压。

9.根据权利要求1-3中任一项所述的装置，包括电压源，所述电压源配置为施加所述第二输入电压。

10.根据权利要求9所述的装置，其中，所述电压源被配置为将所述第二输入电压的幅度从所述初始电压增大到所述最终电压。

11.一种用于限制电流过冲的方法，包括：

从放大器的输出端处提供输出电压；

使用第一输入电压通过检测晶体管提供检测电压；

使用第二输入电压通过连接到电子元件上的吸收晶体管提供吸收电压；

所述开关反馈电路通过基于所述第二输入电压选择性地将所述检测电压和所述吸收电压连接到所述放大器的所述输入端处，利用所述放大器的所述输出电压对所述检测晶体管的检测栅极和所述吸收晶体管的吸收栅极进行预处理；

选择性地启用所述第二输入电压，当所述第二输入电压被启用后所述第二输入电压从初始电压变化到最终电压；以及

所述开关反馈电路选择性地将所述检测电压连接到所述放大器的所述输入端处以限制所述电子元件中的电流过冲。

12.根据权利要求11所述的方法，其中，基于大于所述检测晶体管的大小的所述吸收晶体管的大小，提供所述检测电压和提供所述吸收电压。

13.根据权利要求12所述的方法，其中，基于连接到第一电阻器上的所述检测晶体管以及连接到第二电阻器上的所述吸收晶体管，来提供所述检测电压和提供所述吸收电压；

其中，所述吸收晶体管的大小与所述检测晶体管的大小以一比例成正比；

其中，所述第二电阻器的大小与所述第一电阻器的大小以所述比例成反比。