[发明专利]一种基于非字线分割的存储器多位翻转的显示方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种基于非字线分割的存储器多位翻转的显示方法，主要是涉及没有对字线进行分割的该类存储器。即，只有行译码，没有列译码，一行即是一个字。

背景技术

来自宇宙射线中的各种高能粒子以及封装材料中含有的微量放射性元素，都有可能导致存储器发生比特位的翻转，尤其是当其能量较强时，可能会发生多比特位的翻转。因此，有必要对所设计的存储器进行多位翻转的检测，寻找设计缺陷和瓶颈。

对于基于非字线分割的存储器而言，其比特位的版图相邻位并非是同一个字中的相邻位。而且，该类存储器容量往往较大，如果把所有的数据都读出来检测判断，则会浪费上线宝贵的机时，同时对系统的传输带宽也会带来很高的要求。如果实验前不能全面考虑测试时所发生的相关问题，则会导致实验测试数据意义不大甚至无效。如果能根据实验现象实时调整测试方案则能让测试变得更有意义，由此，需要一套能动态实时显示存储器多位翻转的测试方案才能让测试人员更为清晰的了解存储器哪些比特位更加脆弱，更容易发生多位翻转。但目前还没有相关的解决方案。

本发明则提供了一种简单、快速解决的方案，能让测试人员实时、直观的了解到所发生多位翻转的位置，以及哪些位发生了翻转。

发明内容

(一)要解决的技术问题

为了快速、准确的显示出多位翻转在存储器中所处的位置，本发明提供了一种基于非字线分割的存储器多位翻转的显示方法。

(二)技术方案

为达到上述目的，本发明提供了一种基于非字线分割的存储器多位翻转的显示方法，包括：选择粒子流速以及测试时间；FPGA板向存储器注入测试激励，存储器将反馈得到的数据通过串口回传到PC机；以及在PC机上通过LabView编程实现实时动态图形界面，显示存储器中所发生多位翻转的位置。

上述方案中，所述选择粒子流速以及测试时间，是让存储器读出一个字的时间远远小于存储器平均被一个粒子击中的时间，该远远小于是小于1000倍以上。

上述方案中，所述FPGA板向存储器注入测试激励，存储器将反馈得到的数据通过串口回传到PC机，包括：将存储器全地址写1或0，全地址写完数据后，开始执行循环读地址的操作，当FPGA内测试程序检测到存储器某个地址上的数据有错误出现时，首先FPGA保存该地址形成断点，将该地址设为地址n；然后从该地址开始，对存储器连续扫描接下来两个地址：地址n+1及地址n+2，并判断这三个地址上的错误数之和，如果这三个地址上的错误数之和大于1，则意味着多位翻转的发生，FPGA将记录上述三个地址以及每个地址上的数据，并通过串口把数据回传到PC机；如果这三个地址上的错误数之和等于1，则程序返回到断点的下一个地址，继续执行循环读地址的操作。

上述方案中，所述在PC机上通过LabView编程实现实时动态图形界面，显示存储器中所发生多位翻转的位置，包括：在PC机上通过LabView编程获得图形界面，把回传的数据实时显示在该图形界面上，其中包括存储器发生多位翻转的地址和错误的原始数据。

上述方案中，所述在执行循环读地址的操作时，如果设定的测试时间到达，则结束。

(三)有益效果

本发明针对基于非字线分割的存储器提供了一种多位翻转的显示方法，常规的方法是针对存储器全部地址来寻址，从而定位存储器发生多位翻转的位置。而本专利中使用的方法不需要对SRAM采用全部寻址地方式，而只是针对有错误出现的地址来进行上下扫描，这样对于大容量SRAM而言，极大了缩短了定位存储器发生多位翻转所在位置。同时通过Labview编程形成实时显示界面，更能让测试人员实时、直观地了解多位翻转所发的位置，便于测试人员及时对实验进行调整，从而获得更有价值的实验数据。

附图说明

图1是依照本发明实施例的基于非字线分割的存储器多位翻转的显示的示意图。

图2是依照本发明实施例的基于非字线分割的存储器多位翻转的显示方法的流程图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。

如图1和图2所示，本发明提供了一种基于非字线分割的存储器多位翻转的显示方法，包括：选择粒子流速以及测试时间；FPGA板向存储器注入测试激励，存储器将反馈得到的数据通过串口回传到PC机；以及在PC机上通过LabView编程实现实时动态图形界面，显示存储器中所发生多位翻转的位置。