[发明专利]光谱测定装置有效

专利信息
申请号: 201310211688.3 申请日: 2009-09-24
公开(公告)号: CN103323405A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 井口和也;铃木健吾 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N21/01;G01N21/15;G01N21/47;G01N21/64;G01J3/02
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光谱 测定 装置
【说明书】:

本申请是申请日为2009年9月24日、申请号为200980152429.X、发明名称为光谱测定装置专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种具备积分球并用于测量冷却到所需温度的试料的光谱测定装置。

背景技术

在具备对从试料发出的被测定光进行观测的积分球的光谱测定装置中,已知的有对试料进行冷却的光谱测定装置(例如参考专利文献1)。在专利文献1中所记载的光谱测定装置中,通过使以面向积分球内的方式配置的试料接触冷媒而将试料冷却到所需的温度。

在具备积分球的光谱测定装置中,已知的有对积分球内进行冷却的光谱测定装置(例如参考专利文献2)。在专利文献2中所记载的光谱测定装置中,将冷气导入积分球内而将积分球冷却到所需的温度。

本申请人申请的具备积分球的光检出装置(例如专利文献3)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:特开昭61-082442号公报

专利文献2:特开平07-146175号公报

专利文献3:特开2007-86031号公报

发明内容

发明要解决的问题

在专利文献1中所记载的光谱测定装置中,通过试料接触冷媒来进行冷却。因此,在试料露出积分球内的部分出现结露而妨碍正确的测定。一旦在试料中出现结露,会形成对到试料的被测定光的入射等的阻挡。积分球的内周面一般由具有高反射率且扩散性良好的扩散反射材料(例如スペクトラロン(注册商标)和硫酸钡等)构成。根据该扩散反射材料的成分,结露产生的水分被附着的话,扩散反射材料会被溶解,由积分球的内周面的扩散反射会变得不充分。

专利文献2中所记载的光谱测定装置中,虽然将冷气导入到积分球内而对积分球进行冷却,但是这是为了吸收了从配置在积分球内的照射灯产生的热,而没有对有关试料的冷却方面进行任何考虑。由于被测定对象是发热的光源,因此不会引起上述的结露问题。

但是,为了简单且高效率地冷却试料,考虑了使用保持冷媒的杜瓦瓶。然而,即使在使用了杜瓦瓶的情况下,也难以防止杜瓦瓶露出积分球内的部分出现结露。

本发明的目的在于提供一种即使在对冷却到所需温度的状态的试料进行测定的情况下,也可以防止结露出现的光谱测定装置。

解决问题的方法

本发明提供的是一种具备将测定对象的试料配置在内部而观测从试料发出的被测定光的积分球的光谱测定装置,具备:保持用于冷却试料的冷媒,并且至少一部分以面对积分球内的方式定位的杜瓦瓶,以及将从杜瓦瓶所保持的冷媒产生的气体导入到积分球内的气体导入通路。

在本发明中,通过杜瓦瓶所保持的冷媒的气化,而产生比较低温且干燥的气体。从冷媒产生的气体通过气体导入通路被导入到积分球内。因此,积分球内由于从冷媒产生的气体,而处在比较低温且干燥的环境下,从而能够防止杜瓦瓶露出积分球内的部分出现结露。

优选地,进一步具备覆盖杜瓦瓶的从积分球露出的部分的盖体。这种情况下,能够防止从冷媒产生的气体被外扩散到装置外,并且效率良好地将该气体导入到的积分球内。

更优选地,在盖体中设置有气体导入通路。在这种情况下,能够可靠且简易地进行气体导入通路的设置。

优选地,进一步具备容纳试料并且配置在杜瓦瓶内的试料支撑体。在这种情况下,试料能够不接触冷媒而通过冷媒冷却。

优选地,进一步具备将干燥气体导入积分球内的气体导入通路。在这种情况下,能够进一步防止杜瓦瓶中露出积分球内的部分出现结露。

发明的效果

根据本发明,能够提供一种即使在对冷却到所需温度的状态的试料进行测定的情况下,也可以进一步防止结露产生的光谱测定装置。

附图说明

图1是示意性地表示光谱测定装置的一个实施方式的结构的图。

图2是表示积分球和杜瓦瓶框体的结构一个例子的立体图。

图3是表示积分球、杜瓦瓶框体以及杜瓦瓶的结构的一个例子的截面图。

图4是表示积分球、杜瓦瓶框体以及杜瓦瓶的结构的一个例子的截面图。

图5是表示积分球、杜瓦瓶框体以及杜瓦瓶的结构的一个例子的截面图。

图6是表示积分球、杜瓦瓶框体以及杜瓦瓶的结构的一个例子的截面图。

图7是表示排水开口部的结构的一个例子的截面图。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浜松光子学株式会社,未经浜松光子学株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310211688.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top