[发明专利]一种生产IC智能卡的方法有效
申请号: | 201310203142.3 | 申请日: | 2013-05-28 |
公开(公告)号: | CN103246913B | 公开(公告)日: | 2018-04-03 |
发明(设计)人: | 朱阁勇;邱海涛 | 申请(专利权)人: | 上海中卡智能卡有限公司 |
主分类号: | G06K19/07 | 分类号: | G06K19/07 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司31253 | 代理人: | 左祝安 |
地址: | 201202 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 生产 ic 智能卡 方法 | ||
技术领域
本发明涉及信息技术领域,具体来说涉及一种生产IC智能卡的方法。
背景技术
目前,生产接触式IC智能卡以及双界面IC智能卡的生产方法有两种,一种是铣槽法,一种是层压法。
铣槽法首先将IC智能卡卡基层压好,然后在卡基表面用铣槽机铣出IC模块槽,将背面贴有热熔胶膜的IC模块放入其中,然后通过热压,使IC模块背面的热熔胶膜融化,将IC模块与卡基粘合在一起,最终得到接触式IC智能卡或双界面IC智能卡。其中双界面IC模块在放入前,IC模块上的焊盘还应与卡基材料上的金属天线焊接在一起。
层压法是首先在组成卡基的若干层材料上,均冲出IC模块孔,然后按照顺序逐一装订好,并将IC模块嵌入孔中,再进行层压和冲卡,最后得到接触式IC智能卡或双界面IC智能卡。其中双界面IC模块在层压前,还应与卡基材料上的金属天线焊接在一起。
IC模块在智能卡中的凹陷深度控制,一直是被人诟病的。如何在生产中保持IC模块在智能卡中的凹陷深度一致,是一个很难解决的问题,见图7。一个凹陷的IC模块结构,可以避免IC模块由于在消费者手中被反复摩擦,而导致的表面触点受损或被沾污,以及触点受损或沾污带来使用时接触不良的现象;并且能延长IC智能卡的寿命。
铣槽法是通过在卡基上铣出IC模块槽,然后将IC模块嵌入其中的方法。但是由于两个原因造成IC模块的凹陷深度不易控制,一是由于铣槽机的精度达不到要求,二是每次热压的温度和压力均不能控制的很准确,导致模块背面的热熔胶膜热压后的厚度不一,最终导致IC模块的凹陷偏差很大。
层压法是将冲有IC模块孔的第一表面层套在IC模块上,面层与IC模块保持一个高度,然后进行层压。这样,虽然能使IC模块的表面与卡基表面保持同样的高度,且大批量生产过程中能保证这两者高度差的一致性,但是不能满足IC模块表面比卡基表面低的要求。
发明内容
针对上述问题,本发明的目是为了解决现有IC智能卡中的IC模块凹陷深度不一致的问题,并且可以很方便的调整此凹陷深度。
为了实现上述目的,本发明的技术方案如下:
一种生产IC智能卡的方法,其特征在于,包括以下步骤,
A、在正面印刷层上冲出保护孔,用来套在T型IC模块的上部;
B、在IC模块保护层上冲出IC模块保护胶孔,用来套住T型IC模块下部保护胶;
C、将正面印刷层、IC模块保护层、背面印刷层和第二表面层材料按照顺序装订好,此时保护孔、IC模块保护胶孔组合构成IC模块孔;然后将T型IC模块填入IC模块孔中并固定,保持T型IC模块表面与正面印刷层表面相平;
D、第一表面层材料按照T型IC模块正表面的尺寸,冲出与IC模块孔相对应的镂空图案,该镂空图案包括未完全断裂的覆盖材料部分,所述覆盖材料部分只保留若干连接点,覆盖材料部分通过该连接点与第一表面层材料的其余部分相连接;
E、将第一表面层材料覆盖在卡基表面,并使得镂空图案与IC模块相对应;
F、然后进行热压和冲卡,得到单张IC智能卡;
G、将镂空图案的未完全断裂的覆盖材料部分的连接点截断;将T型IC模块上方残留的镂空图案的覆盖材料部分去除,形成镂空孔,从而露出T型IC模块的正表面。
在步骤A中,正面印刷层可以为两层或若干层材料叠合在一起,以保证保护孔的深度与IC模块的上半部分的厚度相同。
在步骤B中,IC模块保护层为由若干层材料组成的IC模块保护层,其厚度与IC模块下部保护胶厚度一致。
在本发明中,若IC模块为双界面模块,则在步骤E之前,还需要将IC模块上的焊盘与卡基上的天线进行电连接。
在本发明中,镂空图案包括间断的镂空间隙、以及由镂空间隙围绕界定出的覆盖材料部分;该镂空间隙的外缘尺寸大于等于IC模块尺寸,内缘尺寸小于IC模块的尺寸。
在本发明中,所述镂空图案覆盖材料部分的连接点截断方法,可以是激光烧刻、铣刀铣断或切刀切割。
本发明的IC模块表面与卡体表面的高度差为第一表面层材料的厚度,同时由于同一型号的第一表面层材料的厚度偏差很小,所以IC模块的凹陷深度是可控的、偏差很小的。
IC模块的凹陷深度,可由第一表面层材料的厚度来调整,不同厚度的第一表面层材料,可以制作出IC模块凹陷深度不同的IC智能卡。
本发明解决了IC模块在卡体内的高度不一致问题,解决了批量生产中,不能保证IC模块比卡体表面低的问题。
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