[发明专利]一种摆片下垂量精密测量装置及方法

权利要求书

1.一种摆片下垂量精密测量装置，包括微型步进电机、联轴器、第一恒测力钮、第一千分尺、刻度盘、表头、摆片、基体、支架、激光发射器、圆筒、第二千分尺、第二恒测力钮、底座、控制系统、支柱、目镜、通孔、U型臂和套筒；

其特征在于：所述的基体包括通孔、U型臂和套筒， U型臂的一端与套筒连接，另一端开有两级阶梯通孔连接，上半部分通孔的直径大于下半部分通孔的直径；套筒与通孔的轴线方向都为竖直方向；

所述的底座上设有微型步进电机；微型步进电机通过控制系统控制；微型步进电机的输出轴通过联轴器与第一千分尺的第一恒测力钮连接，第一千分尺通过螺钉固定在基体的套筒中，基的U型臂通过螺钉固定连接在支架上，支架垂直固定在底座的上底面，摆片放在基体通孔中，基体的左侧设有目镜，目镜固定在支柱上，使目镜能够观察到摆片下端，基体的右侧设置有激光发射器，激光发射器设置在第二千分尺的表头上，通过第二千分尺调节位置，第二千分尺通过螺钉固定在圆筒中，圆筒通过圆筒臂固定在支架上。

2.一种摆片下垂量精密测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

1)先将摆片放入基体的通孔中，摆片自然下垂，等到摆片下垂量最大时，开始测量；

2)激光发射器发射激光，通过手动旋转第二千分尺的第二恒测力钮来调整发射器的位置，使得激光照到摆片下垂的边缘；

3)微型步进电机正转，带动第一千分尺表头向上移动，使得表头缓慢靠近摆片下垂边缘；

4)在目镜下，观察表头有无和摆片下垂边缘接触；如果激光发射器照到摆片下垂边缘的红点还能在目镜下观察到，则二者未接触，微型步进电机继续正转，带动表头上移；直到激光发射器照到摆片下垂边缘的红点刚好在目镜的观察下消失，则二者接触，控制系统发出指令，使微型步进电机停止转动；这是从刻度盘记下读数记为h；

5)测量完成后，微型步进电机反转带动表头后退；

6)测量得到的数据按下式计算摆片下垂量：

  设摆片标准下垂量为δ₀ 

则摆片实际下垂量为δ

δ=δ₀-Δ

式中：Δ=h-h₀

h₀-摆片标准下垂量为δ₀是刻度盘的读数(mm)；

h-摆片实际下垂量为δ是刻度盘的读数(mm)。